發(fā)布時間：2023-12-13 20:16

　　鎖相環(huán)廣泛應(yīng)用于頻率合成、時鐘分配、相位解調(diào)以及時鐘恢復等,是無線通信、光纖鏈路、射頻收發(fā)機及微型計算機等必不可少的一部分,其可測性設(shè)計對于確保整個電子系統(tǒng)的性能具有重要意義。常規(guī)鎖相環(huán)可測性方法將結(jié)構(gòu)測試和性能測試分離,導致測試需要復雜的外部測試儀器來驗證待測鎖相環(huán)的性能,或者不能檢測鎖相環(huán)中是否存在故障;且測試電路較為復雜,面積開銷大。將兩者分離測試需要較高的測試成本和較長的測試時間,降低了測試技術(shù)工程應(yīng)用的價值。而當前少數(shù)幾種能夠同時完成結(jié)構(gòu)測試和性能評估的鎖相環(huán)可測性方法大多采用相互獨立的測試結(jié)構(gòu),致使測試電路更加復雜,面積開銷甚至可能超過待測鎖相環(huán)電路的芯片面積,成本較高,且其故障覆蓋率和測試分辨率仍有待提高。因此本文從兼顧結(jié)構(gòu)測試和性能評估的鎖相環(huán)可測性方案出發(fā),重點研究了用同一個具有較高故障覆蓋率和抖動測量分辨率的可測性電路同時完成鎖相環(huán)的片上故障檢測和抖動測量。本文的主要工作及創(chuàng)新點包括:(1)研究了電荷泵鎖相環(huán)結(jié)構(gòu)中故障與抖動的關(guān)系,分別從系統(tǒng)理論模型,行為級模型和晶體管級模型入手,定性定量分析了故障對抖動的影響。(2)提出了一種兼顧結(jié)構(gòu)測試和性能評估的鎖相環(huán)可測性結(jié)...

【文章頁數(shù)】：130 頁

【學位級別】：博士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第一章 緒論
    1.1 論文研究背景和意義
    1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀
    1.3 論文主要工作和創(chuàng)新點
    1.4 論文的結(jié)構(gòu)
第二章 鎖相環(huán)可測性概述
    2.1 鎖相環(huán)的結(jié)構(gòu)設(shè)計和性能指標
    2.2 鎖相環(huán)的可測性綜述與分析
    2.3 鎖相環(huán)可測性方法總結(jié)
    2.4 本章小結(jié)
第三章 兼顧結(jié)構(gòu)測試和性能評估的鎖相環(huán)可測性研究
    3.1 鎖相環(huán)可測性系統(tǒng)研究與設(shè)計
    3.2 待測鎖相環(huán)的研究與設(shè)計
    3.3 鎖相環(huán)可測性設(shè)計結(jié)構(gòu)中故障對抖動影響的研究分析
    3.4 本章小結(jié)
第四章 鎖相環(huán)DFT結(jié)構(gòu)中故障測試技術(shù)的研究與設(shè)計
    4.1 鎖相環(huán)故障測試原理
    4.2 鎖相環(huán)片上故障測試技術(shù)研究
    4.3 鎖相環(huán)故障測試結(jié)構(gòu)設(shè)計與驗證
    4.4 本章小結(jié)
第五章 鎖相環(huán)DFT結(jié)構(gòu)中抖動測量技術(shù)的研究與設(shè)計
    5.1 鎖相環(huán)抖動測量原理
    5.2 鎖相環(huán)片上抖動測量技術(shù)研究
    5.3 鎖相環(huán)抖動測量方案分析
    5.4 鎖相環(huán)抖動測量結(jié)構(gòu)設(shè)計與驗證
    5.5 本章小結(jié)
第六章 鎖相環(huán)DFT電路的驗證與結(jié)果分析
    6.1 鎖相環(huán)DFT電路設(shè)計
    6.2 鎖相環(huán)DFT電路驗證和分析
    6.3 本章小結(jié)
第七章 總結(jié)和展望
    7.1 論文總結(jié)
    7.2 展望
致謝
參考文獻
博士階段獲得的研究成果



本文編號：3873896