結(jié)合分布式偏振串?dāng)_分析儀,利用瓊斯矩陣對LiNbO₃集成Y波導(dǎo)進行理論建模分析,并且得到了實驗驗證。實驗證明,偏振串?dāng)_分析儀能評估出Y波導(dǎo)的整體消光比,且能夠測試出Y波導(dǎo)內(nèi)部的一個缺陷的串?dāng)_值,彌補了強度型消光比測試儀的不足。最后用單偏振光纖驗證了Y波導(dǎo)測試結(jié)果的合理性。分布式偏振串?dāng)_分析儀在實際應(yīng)用中對篩選性能更加優(yōu)異的LiNbO₃集成光學(xué)芯片有著重要意義。

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【文章目錄】：
1 引言
2 測試原理
    2.1 基于偏振串?dāng)_分析儀的測試光路分析
    2.2 測試建模分析
3 實驗驗證
4 用單偏振光纖驗證Y波導(dǎo)實驗結(jié)論的合理性
5 結(jié)論



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