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高可靠ADC單粒子試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)研究及實(shí)現(xiàn)

發(fā)布時(shí)間:2021-10-25 08:51
  空間輻射環(huán)境中存在著多種高能質(zhì)子、電子、重離子以及高溫等離子體等各種帶電粒子,這些帶電粒子會(huì)與航天器設(shè)備中電子元器件的半導(dǎo)體材料相互作用,造成器件損傷,通常表現(xiàn)為邏輯狀態(tài)翻轉(zhuǎn)、功能失效甚至元器件的燒毀,一般稱(chēng)這類(lèi)效應(yīng)為單粒子輻射效應(yīng)(SEE),如何準(zhǔn)確、有效評(píng)估此類(lèi)效應(yīng)是十分必要的。傳統(tǒng)ADC器件的單粒子輻照試驗(yàn)檢測(cè)系統(tǒng)通;谛盘(hào)發(fā)生器、直流穩(wěn)壓電源實(shí)現(xiàn)信號(hào)輸入及電源供電,利用邏輯分析儀的觸發(fā)功能監(jiān)控并抓取單粒子輻照時(shí)模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)器件的輸出數(shù)據(jù)信號(hào)跳變;該系統(tǒng)信號(hào)鏈路復(fù)雜,易受試驗(yàn)環(huán)境的干擾,不便攜帶和功能擴(kuò)展。鑒于此,本文針對(duì)空間應(yīng)用的高可靠ADC器件,基于虛擬設(shè)備、現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列,設(shè)計(jì)了一款集成片上系統(tǒng)(System on Chip,SOC)控制方案的單粒子輻照試驗(yàn)檢測(cè)系統(tǒng),用以監(jiān)控高可靠ADC器件單粒子輻射效應(yīng)、評(píng)估其抗單粒子輻射能力。該方案結(jié)合FPGA可編程資源豐富(特別是I0資源)和SOC程序開(kāi)發(fā)便捷靈活的優(yōu)點(diǎn),下位機(jī)體積小、重量輕、成本低,便于轉(zhuǎn)運(yùn)及攜帶;下位機(jī)與上位機(jī)之間的通訊采用USB2.0接口通訊,與試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境兼容性高,通過(guò)串口可有效實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)真空腔體內(nèi)... 

【文章來(lái)源】:中國(guó)科學(xué)院大學(xué)(中國(guó)科學(xué)院大學(xué)人工智能學(xué)院)北京市

【文章頁(yè)數(shù)】:75 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】:碩士

【部分圖文】:

高可靠ADC單粒子試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)研究及實(shí)現(xiàn)


太陽(yáng)宇宙射線示意圖

輻射帶,銀河宇宙線,宇宙空間,高能粒子


美國(guó)科學(xué)家范?艾倫(Van?Allen)在1958年首次發(fā)現(xiàn)的,因此又被稱(chēng)為范?艾??倫輻射帶(Van?Allen?Belt,?VAB),其主要成分由電子、質(zhì)子以及少量的重離子??構(gòu)成。從圖1-4可以看出,范?艾倫輻射帶是一個(gè)圍繞著地球的多層環(huán)狀高能??粒子輻射帶。??f?.?'?外帶??:r:??范艾倫探瀏器-??圖1-4范?艾倫輻射帶??銀河宇宙線(GCR)是宇宙空間環(huán)境中的高能粒子流,是來(lái)自太陽(yáng)系以外的帶??電粒子,是由能量很高、通量很低的帶電粒子組成,其中85%為質(zhì)子,14%為a??粒子以及1%的重離子,其能量范圍在Me?V到Ge?V之間。??單粒子效應(yīng)的研究始于上世紀(jì)80年代,研究表明,當(dāng)高能粒子攜帶的能量??達(dá)到3.6eV時(shí),其入射到半導(dǎo)體器件中,能量被硅材料吸收后,正好是產(chǎn)生一個(gè)??電子-空穴對(duì)所需的能量,在器件的靈敏區(qū)收集到臨界電荷Qc,需要的最小沉積??能量為:??Emin=22.5*Qc/5R(MeV)t41'[5]??4??

靈敏區(qū),粒子注入,單粒子翻轉(zhuǎn),耗盡區(qū)


圖中標(biāo)記DR的區(qū)域?yàn)楹谋M區(qū),單粒子效應(yīng)的靈敏區(qū)為p型MOS管的漏極??和n型MOS管的漏極。高能粒子徑跡I穿過(guò)P+漏極區(qū)域中心,徑跡IV穿過(guò)N+??漏極區(qū)域中心;粒子徑跡II只穿過(guò)P+漏極的耗盡區(qū),粒子徑跡III只穿過(guò)N+漏??極的耗盡區(qū)。經(jīng)過(guò)試驗(yàn)觀測(cè)到,在耗盡區(qū)內(nèi)的粒子徑跡(a、b、c、d、e、f、g、??h)最靈敏,分別是p型MOS管漏極耗盡區(qū)內(nèi)的b段和n型MOS管的漏極耗盡??

【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
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碩士論文
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本文編號(hào):3457059

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