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Ⅳ-ⅥA族二維材料制備及其相關(guān)器件研究

發(fā)布時(shí)間:2021-09-03 21:01
  二維層狀半導(dǎo)體材料具有獨(dú)特的電子結(jié)構(gòu)和量子尺寸效應(yīng),在能源、微電子、光學(xué)及光電子器件等領(lǐng)域受到廣泛的關(guān)注。其中,Ⅳ-ⅥA族二維層狀材料也因?yàn)槌杀镜、元素豐富及對(duì)環(huán)境友好等優(yōu)點(diǎn),近幾年迅速成為科研工作者們研究的熱點(diǎn)。與此同時(shí),Ⅳ-ⅥA族二維材料還具有豐富的層狀晶體結(jié)構(gòu)和新穎的物理性質(zhì),并且在光學(xué)和光電子學(xué)器件中展現(xiàn)出巨大的應(yīng)用前景。然而,與目前主流的過(guò)渡金屬硫族化合物相比,Ⅳ-ⅥA族二維材料在各個(gè)方向的研究工作均處于初始階段,研究相對(duì)較少。本文主要針對(duì)單晶硫化鍺和硒化鍺二維材料制備、層數(shù)減薄、光學(xué)測(cè)試及電學(xué)表征進(jìn)行研究工作。首先,概括綜述了石墨烯、過(guò)渡金屬硫族化合物以及黑磷等幾種常見(jiàn)的二維材料研究工作。其次,總結(jié)了一下Ⅳ-ⅥA族二維材料近幾年的研究現(xiàn)狀;分別介紹了幾種Ⅳ-ⅥA族二維材料的晶體結(jié)構(gòu)和物理性質(zhì)以及這些材料在場(chǎng)效應(yīng)晶體管和光電探測(cè)方面的進(jìn)展和多種器件制備前景。最后,簡(jiǎn)單概括了本文的研究工作的內(nèi)容、目的以及意義。接下來(lái),介紹了本文所使用到的幾種常用設(shè)備儀器及其原理。第三章中,介紹了利用激光減薄技術(shù),將機(jī)械剝離獲得的高質(zhì)量單晶二維硒化鍺材料進(jìn)行減薄處理;成功的獲得了單層的二維硒化鍺... 

【文章來(lái)源】:西南大學(xué)重慶市 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁(yè)數(shù)】:77 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】:碩士

【部分圖文】:

Ⅳ-ⅥA族二維材料制備及其相關(guān)器件研究


圖1-1?(a)石墨烯的晶體結(jié)構(gòu)示意圖;(b)石墨烯的三維能帶結(jié)構(gòu)??

單層,晶格結(jié)構(gòu),蜂窩,帶隙


帶隙半導(dǎo)體( ̄l.leV)的塊體二硫化鉬結(jié)構(gòu),隨層??數(shù)的減少,帶隙結(jié)構(gòu)發(fā)生變化,直到出現(xiàn)單層直接帶隙二硫化鉬(?1.8?eV)[60-63]。??獨(dú)特的電子能帶結(jié)構(gòu)在低功耗電子器件[64-66]、場(chǎng)效應(yīng)晶體管[67-72]、自旋電子??#??飄|?2.二^?/?.;?:?^?\/\?0?V?■??Ir-ii?^??f?S?M?r?m?k?「r?m?k?r?r?m?k?「r?m?k?廠??550?900?650??Wavelength?A(nm)?^?k?,?H??圖1-2?(a)單層二硫化鉬蜂窩晶格結(jié)構(gòu);(b)從左到右分別是計(jì)算的塊材、四層、雙層和單層二硫化鉬的能帶??結(jié)構(gòu)。固體箭頭表示最低的能量躍遷。(c)用拉曼強(qiáng)度歸一化的不同層數(shù)二硫化鉬的光致發(fā)光光譜。[60]??器件[73-74]、光電探測(cè)器件[75-79]以及低頻功率器件[80]等領(lǐng)域都具有可觀的應(yīng)用??2??

特性曲線(xiàn),場(chǎng)效應(yīng),晶體管,器件


sistors,FETs)的電子遷移率??在室溫下能夠達(dá)aoocn^vY1,開(kāi)關(guān)比可達(dá) ̄108。??1.1.3?黑鱗(BP,?Black?Phosphorene)??黑磷(Black?Phosphorene,BP)是一種除石墨稀以外的僅由單一元素二維半??導(dǎo)體材料。磷原子在平面內(nèi)以共價(jià)鍵的形式形成面內(nèi)原子層,微弱的范德華力將??層與層之間結(jié)合起來(lái)[81]。黑磷面內(nèi)磷原子有五個(gè)價(jià)電子(3s23p3),每個(gè)磷原子與??鄰近的三個(gè)磷原子之間通過(guò)sp3雜化形成褶皺的晶格結(jié)構(gòu)[82-85],如圖1-3?(a)所??/?f?4?\?H????-300?-丨?1?,?X???.[?〇???(A)??-100?-SO?-60?-40?-20?〇?20?40?60?80?100??^?-?r?Gate?voltage?(V>??|?\?\?0?10?2D?30?40?50?%??g?\?Thickness?(nm)??1?〇?j1.?-?>?.?-?,T?-?r?.?,?L--?I?0?1,?■?■?\■丨?■—??0?f?2?1?4?S?-30-20-10?0?}〇??Lateral?distance^}?NornruJued?gate?volt^ae?(V)??圖1-3黑磷的場(chǎng)效應(yīng)晶體管器件t85]?(a)黑磷的晶體結(jié)構(gòu)示意圖(b)黑磷的場(chǎng)效應(yīng)晶體管??器件結(jié)構(gòu)示意圖,下方是溝道層黑磷的厚度信息,'6.5?rnn?(c)黑磷場(chǎng)效應(yīng)晶體管器件的轉(zhuǎn)移??特性曲線(xiàn),插圖為器件的光學(xué)顯微鏡圖片(d)不同厚度的黑磷場(chǎng)效應(yīng)晶體管器件的性能,厚??度分別為1〇11111(黑色),811111(紅色)以及


本文編號(hào):3381852

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