天堂国产午夜亚洲专区-少妇人妻综合久久蜜臀-国产成人户外露出视频在线-国产91传媒一区二区三区

當(dāng)前位置:主頁 > 科技論文 > 電子信息論文 >

基于ATE多通道射頻接收芯片測試研究

發(fā)布時(shí)間:2021-07-05 20:31
  雷達(dá)用射頻接收芯片是相控陣?yán)走_(dá)應(yīng)用中具有核心競爭力的產(chǎn)品單元,通過接收天空中被測物體反射回的低功率信號(hào),將接收的S、L波段射頻模擬信號(hào)通過混頻器進(jìn)行頻率轉(zhuǎn)換、濾波并將信號(hào)放大,驅(qū)動(dòng)下一級(jí)的數(shù)字處理芯片。射頻接收芯片具有射頻接收部分和模數(shù)轉(zhuǎn)換部分,結(jié)構(gòu)復(fù)雜;對(duì)其三溫下多通道相位和增益一致性要求高,篩選參數(shù)要求嚴(yán)格;為保障芯片高質(zhì)量一致性,必須進(jìn)行全參數(shù)測試,這就對(duì)測試系統(tǒng)性能可靠性、測試板Loadboard的設(shè)計(jì)制造和篩選機(jī)的配合應(yīng)用提出更高要求。首先,本論文針對(duì)射頻接收芯片結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和測試項(xiàng)目要求,對(duì)射頻測試板進(jìn)行了原理圖設(shè)計(jì),避免多通道并行測試時(shí)信號(hào)間的互相串?dāng)_,通過加入?yún)⒖夹酒瑢?duì)芯片間的相位一致性進(jìn)行統(tǒng)一衡量。由于測試資源和成本限制,為解決射頻通道數(shù)量資源不足,我們?cè)谏漕l測試板設(shè)計(jì)中利用功分器、耦合器和移相器等電路對(duì)射頻通道進(jìn)行擴(kuò)展復(fù)用。通過PADS工具進(jìn)行了射頻測試板的布局布線,實(shí)現(xiàn)了對(duì)射頻信號(hào)傳輸?shù)淖杩箍刂?最終完成射頻測試板Loadboard的設(shè)計(jì)。其次,基于射頻測試原理,利用自動(dòng)測試設(shè)備(ATE,Automatic Test Equipment)ADVANTEST V9300... 

【文章來源】:電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】:76 頁

【學(xué)位級(jí)別】:碩士

【部分圖文】:

基于ATE多通道射頻接收芯片測試研究


多通道射頻接收芯片結(jié)構(gòu)框圖

基于ATE多通道射頻接收芯片測試研究


ADC的相干采樣

結(jié)構(gòu)圖,測試板,結(jié)構(gòu)圖


第三章 測試板設(shè)計(jì)第三章 測試板設(shè)計(jì)1 測試板 Loadboard 簡介待測芯片通常是具有電源、模擬信號(hào)、數(shù)字信號(hào)的芯片,每種資源都需要儀相應(yīng)的測試資源提供,ATE 測試板 Loadboard 的作用是連接測試系統(tǒng)內(nèi)板和待測芯片,而在量產(chǎn)測試中,ATE 測試板通常會(huì)配合篩選機(jī)使用。ATE 結(jié)構(gòu)如圖 3-1 所示,待測芯片置于測試板中間位置,上下兩排過孔與測試系簧針連接,引出電源、數(shù)字信號(hào)、模擬信號(hào)和射頻信號(hào)等測試資源[15]。

【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]中國集成電路產(chǎn)業(yè)未來發(fā)展之路探析[J]. 劉紅梅,陳文苑.  當(dāng)代經(jīng)濟(jì). 2017(04)
[2]射頻電路PCB的設(shè)計(jì)技巧[J]. 陳麗飛.  電子設(shè)計(jì)工程. 2013(07)
[3]ATE系統(tǒng)中基于相關(guān)采樣定理的ADC測試方法和波形重建[J]. 田雨,黃俊,王海濤,肖鵬程.  電子測量技術(shù). 2009(12)
[4]我國集成電路測試技術(shù)現(xiàn)狀及發(fā)展策略[J]. 俞建峰,陳翔,楊雪瑛.  中國測試. 2009(03)
[5]ATE測試數(shù)據(jù)分析與轉(zhuǎn)換[J]. 韓應(yīng)升,楊世風(fēng).  國外電子測量技術(shù). 2008(11)
[6]射頻電路PCB設(shè)計(jì)[J]. 吳建輝,茅潔.  電子工藝技術(shù). 2003(01)
[7]阻抗匹配技術(shù)簡介[J]. 劉中信.  四川通信技術(shù). 1997(03)

碩士論文
[1]IC分選設(shè)備測壓結(jié)構(gòu)關(guān)鍵技術(shù)研究[D]. 張樹盛.浙江大學(xué) 2016
[2]針對(duì)封裝半成品IC的條狀并行測試研究[D]. 唐昊.上海交通大學(xué) 2015
[3]基于ATE的射頻芯片測試技術(shù)研究[D]. 羅慶.華南理工大學(xué) 2013
[4]提高Pipeline-ADC分辨率與SFDR性能的內(nèi)部Dither技術(shù)研究[D]. 羅茂根.電子科技大學(xué) 2012
[5]基于Teradyne J750測試平臺(tái)的射頻芯片低成本測試方案開發(fā)及實(shí)現(xiàn)[D]. 甘甜.復(fù)旦大學(xué) 2010
[6]2.4GHz收發(fā)系統(tǒng)射頻前端研究及關(guān)鍵模塊實(shí)現(xiàn)[D]. 付揚(yáng)東.重慶大學(xué) 2009
[7]針對(duì)混合信號(hào)測試的高效ATE測試解決方法的研究與實(shí)現(xiàn)[D]. 熊煒.上海交通大學(xué) 2008



本文編號(hào):3266776

資料下載
論文發(fā)表

本文鏈接:http://sikaile.net/kejilunwen/dianzigongchenglunwen/3266776.html


Copyright(c)文論論文網(wǎng)All Rights Reserved | 網(wǎng)站地圖 |

版權(quán)申明:資料由用戶6164e***提供,本站僅收錄摘要或目錄,作者需要?jiǎng)h除請(qǐng)E-mail郵箱bigeng88@qq.com