利用圖像處理方法對比研究了單波長輻照和雙波長激光同時輻照下熔石英光學(xué)元件的損傷增長閾值。通過實時采集損傷圖像和靶面光斑能量空間分布,獲取損傷增長發(fā)生位置對應(yīng)的能量密度。針對3ω單獨輻照、3ω和1ω同時輻照下熔石英元件損傷增長的實驗數(shù)據(jù),比較分析了基于圖像處理方法和傳統(tǒng)損傷增長閾值R-on-1測量方法（國標(biāo)）所得結(jié)果的差異。結(jié)果表明:本文采用的圖像處理方法在研究小口徑非均勻光斑輻照下的熔石英光學(xué)元件損傷增長閾值時,能解決傳統(tǒng)損傷閾值測試中將能量密度分布非均勻光斑等效為均勻分布的平頂光斑帶來的計算誤差問題,有助于降低損傷（增長）閾值測量中的光斑口徑效應(yīng)。 

【文章來源】：強(qiáng)激光與粒子束. 2020,32(08)北大核心

【文章頁數(shù)】：6 頁


本文編號：2973425