利用圖像處理方法對(duì)比研究了單波長(zhǎng)輻照和雙波長(zhǎng)激光同時(shí)輻照下熔石英光學(xué)元件的損傷增長(zhǎng)閾值。通過實(shí)時(shí)采集損傷圖像和靶面光斑能量空間分布,獲取損傷增長(zhǎng)發(fā)生位置對(duì)應(yīng)的能量密度。針對(duì)3ω單獨(dú)輻照、3ω和1ω同時(shí)輻照下熔石英元件損傷增長(zhǎng)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),比較分析了基于圖像處理方法和傳統(tǒng)損傷增長(zhǎng)閾值R-on-1測(cè)量方法（國(guó)標(biāo)）所得結(jié)果的差異。結(jié)果表明:本文采用的圖像處理方法在研究小口徑非均勻光斑輻照下的熔石英光學(xué)元件損傷增長(zhǎng)閾值時(shí),能解決傳統(tǒng)損傷閾值測(cè)試中將能量密度分布非均勻光斑等效為均勻分布的平頂光斑帶來的計(jì)算誤差問題,有助于降低損傷（增長(zhǎng)）閾值測(cè)量中的光斑口徑效應(yīng)。 

【文章來源】：強(qiáng)激光與粒子束. 2020,32(08)北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】：6 頁(yè)


本文編號(hào)：2973425