KDP晶體元件后表面激光損傷過程中沖擊波和噴濺行為研究
【學位授予單位】:哈爾濱工業(yè)大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2018
【分類號】:TN249
【圖文】:
1.2 國內外在該方向的研究現(xiàn)狀及分析自從激光引入到工程應用中,激光的損傷問題就一直被人們密切關注。1964年 C.R.Giuliano 首次對激光誘導光學材料的損傷機理進行了研究[10]。研究的初期把關注點放在損傷過程結束后的靜態(tài)檢測,分析激光參數(shù)對造成的損傷形態(tài)的影響;之后由于電子科學技術的發(fā)展和時間分辨技術的進步,人們開始著重于研究損傷的動態(tài)行為過程。1.2.1 激光損傷特征與機理的研究現(xiàn)狀2005 年的美國 Lawrence Livermore National Laboratory 的 C. W. Carr,M.D. Feit 等人給出了 KDP 晶體損傷的基本形貌特征,研究了激光參數(shù)(包括脈沖波形、脈沖持續(xù)時間、波長和通量)對 KDP 晶體損傷密度和損傷尺寸大小的影響[11]。其實驗結果表明 pinpoint 的密度強烈依賴于激光通量,脈沖波形,持續(xù)時間和波長,其中對波長有高的靈敏度,而 pinpoint 的大小對波長不敏感,只與激光通量有關。下圖 1-1 是分別在明場顯微鏡、SEM 掃描電鏡和 2D 拉曼光譜儀中觀察得到的針尖損傷的圖像。
哈爾濱工業(yè)大學工學碩士學位論文年美國 Lawrence Livermore National Laboratory 的 P. 等人進一步分析了 KDP 晶體的損傷形態(tài)特征及其與激擬頻率轉換晶體在工程上實際工作的情況,他們考慮在損傷實驗[12]。實驗中使用脈寬為 4 ns 的 532 nm 激光和m紫外激光,使用 He-Ne 光照射晶體的損傷區(qū)域,散射光損傷點的大小和個數(shù),圖 1-2 為實驗裝置圖。圖 1-3 是在激光單獨和共同作用下的損傷行為的差異,可以看出,下產(chǎn)生的損傷點密度是遠大于任一單獨波長的激光輻照
光和 355 nm激光單獨和共同作用下的損傷行為的差異,可以看出,在兩種波長的激光輻照下產(chǎn)生的損傷點密度是遠大于任一單獨波長的激光輻照下的損傷點密度。圖 1-2 P.DeMange 和 R.A.Negres 的部分實驗裝置圖[12]
【參考文獻】
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本文編號:2793338
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