發(fā)布時(shí)間：2020-03-28 02:05

【摘要】：隨著集成電路的制造工藝越來越發(fā)達(dá),傳統(tǒng)的探針式故障檢測方法已經(jīng)完全不能滿足這類電路板的故障檢測要求,邊界掃描測試技術(shù)就是為了解決VLSI等大型復(fù)雜電子器件而提出的,但是傳統(tǒng)的邊界掃描測試技術(shù)也隨著集成電路的發(fā)展而顯得不足,本文分析了目前邊界掃描測試技術(shù)的應(yīng)用,再結(jié)合復(fù)雜數(shù)字電路板的特點(diǎn),分析得出目前邊界掃描測試技術(shù)在復(fù)雜數(shù)字電路板的應(yīng)用中有掃描鏈路太長,測試效率低,測試覆蓋率低等缺點(diǎn)和不足,因此為了更好地滿足現(xiàn)階段和以后復(fù)雜數(shù)字電路板的故障檢測要求,本文根據(jù)這些缺點(diǎn)和不足,本文以復(fù)雜數(shù)字電路板邊界掃描測試技術(shù)為研究課題,提出了一種適用于復(fù)雜數(shù)字電路板的邊界掃描測試技術(shù),主要研究內(nèi)容有:1、提出了一種新的掃描鏈路設(shè)計(jì)方法。本文針對目前設(shè)計(jì)上存在的缺點(diǎn)提出了“分治法”的掃描鏈設(shè)計(jì)方法,該方法通過將復(fù)雜數(shù)字電路板上的芯片進(jìn)行分類分區(qū)處理,得到主掃描鏈和次級功能掃描鏈,在主掃描鏈的掃描測試中得到次級功能掃描鏈的掃描區(qū)域,然后再對次級功能掃描鏈進(jìn)行掃描測試,最終將故障定位,得到整個(gè)復(fù)雜數(shù)字電路板上存在的故障信息。2、設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)邊界掃描控制器。本文對目前邊界掃描控制器的設(shè)計(jì)方法進(jìn)行了分析和比較,發(fā)現(xiàn)目前設(shè)計(jì)方法中,存在數(shù)據(jù)傳輸速度收到接口的限制,方法編程量大,系統(tǒng)復(fù)雜等缺點(diǎn),本文在總結(jié)了這些缺點(diǎn)之后,使用FPGA加SN74ACT8990總線控制芯片來設(shè)計(jì)邊界掃描控制器,該控制器結(jié)合了FPGA的數(shù)據(jù)處理能力,同時(shí)由于使用了現(xiàn)有的總線控制芯片,使系統(tǒng)設(shè)計(jì)簡單,極易產(chǎn)生JTAG總線信號來進(jìn)行邊界掃描測試。3、設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)邊界掃描軟件界面。在完成邊界掃描測試系統(tǒng)的硬件部分之后,本文針對文中所設(shè)計(jì)的掃描系統(tǒng)測試方法,設(shè)計(jì)了邊界掃描上位機(jī)控制軟件,軟件中包括的功能有:測試向量的自動測試、測試故障的信息顯示、測試電路的選擇和電路板故障器件的信息顯示等。本文還通過上位機(jī)軟件界面對邊界掃描測試系統(tǒng)進(jìn)行了功能驗(yàn)證,證明文中所設(shè)計(jì)的邊界掃描控制器和掃描鏈的可行性。
【圖文】：

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部分原理圖展示
【學(xué)位授予單位】：電子科技大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2019
【分類號】：TN407;TP311.52

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號：2603753