1200V碳化硅MOSFET與硅IGBT器件特性對(duì)比性研究
[Abstract]:The output characteristic test circuit, leakage current test circuit, double pulse test circuit and Buck circuit are built. The output characteristics, leakage current, switching characteristics and device loss of 1200 V SiC MOSFET and Si IGBT are compared and studied. The main advantages and disadvantages of SiC MOSFET are analyzed. The results show that, SiC MOSFET still has stable blocking ability at high temperature, and the loss of, SiC MOSFET is smaller under the same working conditions, so it is suitable for use in high frequency and high power situations. Because of the low transconductance and large on-resistance of the SiC MOSFET, the gate driving voltage needs a large swing (- 5 / 20 V);) because the switching speed is very fast, SiC MOSFET is more sensitive to the stray parameters of the line.
【作者單位】: 北京電動(dòng)車輛協(xié)同創(chuàng)新中心;中國(guó)科學(xué)院電工研究所;中國(guó)科學(xué)院電力電子與電氣驅(qū)動(dòng)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室(電工研究所);
【基金】:國(guó)家自然科學(xué)基金青年基金資助項(xiàng)目(51507166) 國(guó)家高技術(shù)研究發(fā)展計(jì)劃資助項(xiàng)目(863)(2015AA034501)~~
【分類號(hào)】:TN386;TN322.8
【參考文獻(xiàn)】
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【共引文獻(xiàn)】
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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】
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【相似文獻(xiàn)】
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,本文編號(hào):2467315
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