【摘要】：本文提出了一種基于動(dòng)態(tài)電流-靜態(tài)電流(Iddt-Iddq)的檢測(cè)方法,在電路設(shè)計(jì)階段插入掃描鏈進(jìn)行分區(qū)設(shè)計(jì)相結(jié)合的硬件木馬檢測(cè)技術(shù),選用Can總線控制器電路作為實(shí)驗(yàn)電路,在電路設(shè)計(jì)階段將電路分區(qū)并插入掃描鏈,然后進(jìn)行流片,選用源表、專用PCB測(cè)試板、Can總線收發(fā)器搭建測(cè)試平臺(tái)進(jìn)行芯片實(shí)測(cè),實(shí)測(cè)結(jié)果表明,這種檢測(cè)方法可以大幅減小工藝漂移的影響并且提高硬件木馬檢測(cè)分辨率.
[Abstract]:In this paper, a detection method based on dynamic current-static current (Iddt-Iddq) is proposed. In the phase of circuit design, the scanning chain is inserted to carry out the hardware Trojan detection technology combined with the partition design. The Can bus controller circuit is selected as the experimental circuit. In the phase of circuit design, the circuit is partitioned and inserted into the scan chain, then the flow sheet is carried out, and the source table and the special PCB test board can bus transceiver are selected to build a test platform for the chip measurement. The measured results show that, This detection method can greatly reduce the influence of process drift and improve the detection resolution of hardware Trojan horse.
【作者單位】： 江南大學(xué)物聯(lián)網(wǎng)工程學(xué)院;中國(guó)科技集團(tuán)第58研究所;
【分類號(hào)】：TN407

【相似文獻(xiàn)】

相關(guān)期刊論文 前10條

1 王飛;胡瑜;李曉維;;掃描鏈故障確定性診斷向量生成算法[J];計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)與圖形學(xué)學(xué)報(bào);2009年01期

2 王冠軍;趙瑩;王茂勵(lì);;考慮測(cè)試功耗的掃描鏈劃分新方法[J];微電子學(xué)與計(jì)算機(jī);2010年01期

3 鄧立寶;俞洋;江麗君;;基于自動(dòng)分段離均差的掃描鏈平衡算法[J];儀器儀表學(xué)報(bào);2013年06期

4 李兆麟,葉以正,毛志剛;通過(guò)單掃描鏈的構(gòu)造實(shí)現(xiàn)最小測(cè)試應(yīng)用時(shí)間[J];計(jì)算機(jī)學(xué)報(bào);1999年12期

5 李兆麟,葉以正;全掃描設(shè)計(jì)中多掃描鏈的構(gòu)造[J];電子學(xué)報(bào);2000年02期

6 陳治國(guó),徐勇軍,李曉維;一種基于概率分析的掃描鏈動(dòng)態(tài)功耗模型[J];微電子學(xué)與計(jì)算機(jī);2004年02期

7 歐陽(yáng)一鳴;劉娟;梁華國(guó);陳田;;一種基于選擇觸發(fā)的低功耗掃描鏈結(jié)構(gòu)[J];計(jì)算機(jī)工程與應(yīng)用;2010年01期

8 王澤成;尤志強(qiáng);;基于掃描鏈阻塞技術(shù)的時(shí)延測(cè)試方法[J];計(jì)算機(jī)工程;2012年04期

9 劉杰;梁華國(guó);易茂祥;趙發(fā)勇;;動(dòng)態(tài)向量調(diào)整的多掃描鏈測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮[J];電子學(xué)報(bào);2012年02期

10 于靜;梁華國(guó);蔣翠云;;基于多掃描鏈相容壓縮的距離標(biāo)記壓縮方法[J];合肥工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2006年01期

相關(guān)會(huì)議論文 前4條

1 王飛;胡瑜;李曉維;;一種確定性掃描鏈故障診斷向量的生成方法[A];第五屆中國(guó)測(cè)試學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2008年

2 王丹;李少青;劉蓬俠;徐長(zhǎng)明;;基于掃描的at-speed測(cè)試的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[A];第十五屆計(jì)算機(jī)工程與工藝年會(huì)暨第一屆微處理器技術(shù)論壇論文集（A輯）[C];2011年

3 張磊;梁華國(guó);陶玨輝;;測(cè)試集劃分的多掃描鏈二次測(cè)試數(shù)據(jù)壓縮方法[A];計(jì)算機(jī)技術(shù)與應(yīng)用進(jìn)展——全國(guó)第17屆計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)應(yīng)用（CACIS）學(xué)術(shù)會(huì)議論文集（下冊(cè)）[C];2006年

4 陶玨輝;梁華國(guó);張磊;;多掃描鏈測(cè)試集的分組標(biāo)準(zhǔn)向量壓縮法[A];第四屆中國(guó)測(cè)試學(xué)術(shù)會(huì)議論文集[C];2006年

相關(guān)博士學(xué)位論文 前3條

1 鄧立寶;SOC測(cè)試時(shí)間優(yōu)化技術(shù)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2012年

2 張玲;數(shù)字電路測(cè)試激勵(lì)壓縮研究[D];湖南大學(xué);2013年

3 俞洋;系統(tǒng)芯片測(cè)試優(yōu)化關(guān)鍵技術(shù)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2008年

相關(guān)碩士學(xué)位論文 前10條

1 李俊博;SoC片上系統(tǒng)測(cè)試調(diào)度優(yōu)化技術(shù)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2015年

2 于婷婷;基于掃描的耗時(shí)少低功耗的可測(cè)試性技術(shù)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2014年

3 邊小龍;面向MVI的SOC測(cè)試調(diào)度方法研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2016年

4 李健鐸;基于掃描設(shè)計(jì)的集成電路可測(cè)試性設(shè)計(jì)研究[D];貴州大學(xué);2016年

5 鄧秋嚴(yán);IP核測(cè)試訪問(wèn)和掃描鏈低功耗測(cè)試方法研究與實(shí)現(xiàn)[D];國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2014年

6 閔夢(mèng)宇;高性能ALU部件的時(shí)序和功耗優(yōu)化[D];國(guó)防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2015年

7 王澤成;基于掃描鏈阻塞技術(shù)的時(shí)延測(cè)試低費(fèi)用方法研究[D];湖南大學(xué);2011年

8 周晟;基于掃描鏈重排序的低功耗測(cè)試方法研究[D];湖南大學(xué);2012年

9 劉鵬;基于掃描鏈阻塞技術(shù)的低費(fèi)用測(cè)試方法研究[D];湖南大學(xué);2011年

10 張?jiān)?基于掃描鏈阻塞技術(shù)降低測(cè)試費(fèi)用的方法研究[D];湖南大學(xué);2010年

，

本文編號(hào)：2261149