本文關(guān)鍵詞：基于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試數(shù)據(jù)的電磁兼容模型綜合方法　出處：《微波學(xué)報(bào)》2016年02期 　論文類型：期刊論文

  更多相關(guān)文章： 電磁兼容維護(hù) 現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 模型綜合 人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)

【摘要】：經(jīng)常性的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試是掌握電子系統(tǒng)實(shí)時(shí)指標(biāo)和電磁兼容狀況的基本手段。針對(duì)電磁兼容測(cè)試數(shù)據(jù)較多但應(yīng)用不充足的現(xiàn)狀,提出了電磁兼容模型綜合的概念,結(jié)合電磁兼容原理,實(shí)現(xiàn)了運(yùn)用數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法和人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)對(duì)電磁測(cè)量結(jié)果進(jìn)行數(shù)據(jù)挖掘,對(duì)統(tǒng)計(jì)分析方法進(jìn)行了實(shí)用性設(shè)計(jì),研究了神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練方法的實(shí)用性及學(xué)習(xí)率確定方法。電磁兼容模型綜合可建立或修正模型,歸納綜合設(shè)備電磁參數(shù)及系統(tǒng)和平臺(tái)電磁兼容性能變化規(guī)律,實(shí)現(xiàn)電磁兼容信息綜合與狀態(tài)預(yù)測(cè),為增強(qiáng)系統(tǒng)電磁兼容針對(duì)性測(cè)試、主動(dòng)管理和預(yù)知性維護(hù)與保障提供技術(shù)手段。
[Abstract]:Regular field testing is the basic means to master the real-time indicators and EMC status of electronic systems. Aiming at the current situation of EMC testing data but insufficient application, the concept of EMC model synthesis is put forward. Combined with the principle of electromagnetic compatibility, the data mining of electromagnetic measurement results is realized by using mathematical statistics method and artificial neural network technology, and the practical design of statistical analysis method is carried out. The practicability of neural network training method and the method of determining the learning rate are studied. The electromagnetic compatibility model synthesis can be established or modified, and the electromagnetic parameters of the integrated equipment and the variation rule of the electromagnetic compatibility performance of the system and platform are summarized. The realization of EMC information synthesis and state prediction provides technical means for enhancing EMC pertinence testing, active management and predictive maintenance and guarantee.
【作者單位】： 國(guó)防科技大學(xué)電子信息系統(tǒng)復(fù)雜電磁環(huán)境效應(yīng)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;中國(guó)人民解放軍91860部隊(duì);
【基金】：國(guó)家重大基礎(chǔ)研究項(xiàng)目(613138) 國(guó)家自然科學(xué)基金(61372029)
【分類號(hào)】：TN03
【正文快照】： 引言隨著電子系統(tǒng)應(yīng)用時(shí)間的增長(zhǎng),電子元器件老化,各組件所用材料變質(zhì),電子設(shè)備結(jié)構(gòu)變形,從而導(dǎo)致系統(tǒng)EMC性能下降,不再是出廠時(shí)的指標(biāo),廠家也難以給出具體的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)。早期發(fā)現(xiàn)和解決電磁兼容問(wèn)題的經(jīng)濟(jì)、時(shí)間等方面代價(jià)較低。然而,無(wú)論是民用或軍用裝備,目前在使用過(guò)程中都

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5 梁U，

本文編號(hào)：1440164