發(fā)布時間：2017-11-09 17:11

  本文關(guān)鍵詞：代表掃描——一種低功耗可測試性設計結(jié)構(gòu)

  更多相關(guān)文章： 數(shù)字集成電路測試 可測試性設計 掃描結(jié)構(gòu) 低功耗測試 代表掃描

【摘要】：傳統(tǒng)掃描鏈將所有掃描單元串聯(lián),測試數(shù)據(jù)的移位路徑較長,導致測試移位功耗較大.首次提出代表掃描結(jié)構(gòu),它將傳統(tǒng)掃描鏈或子鏈中的觸發(fā)器改造成環(huán)形移位寄存器,為每個環(huán)形移位寄存器遴選一個代表觸發(fā)器,并將這些代表觸發(fā)器串聯(lián),構(gòu)成具有若干局部循環(huán)的代表掃描結(jié)構(gòu).由于代表掃描結(jié)構(gòu)中僅有部分觸發(fā)器參與數(shù)據(jù)移位,這大大減少了移位功耗.對于ISCAS89 benchmark電路來說,最優(yōu)的代表掃描結(jié)構(gòu)的移位功耗僅為傳統(tǒng)直鏈掃描結(jié)構(gòu)的4.68%～13.59%之間,而且電路越大,移位功耗減少的越多.對于S35932電路來說,其環(huán)形移位寄存器大小為42時,對應的移位功耗僅為直鏈掃描結(jié)構(gòu)的4.68%.該結(jié)構(gòu)僅需要在每個觸發(fā)器上增加一個選擇器用來選擇不同的測試模式,具有較小的硬件代價.
【作者單位】： 湖北理工學院計算機學院;長沙理工大學計算機與通信工程學院;
【基金】：國家自然科學基金項目(批準號:61303042,61472123) 湖北省自然科學基金項目(批準號:2014CFC1091) 湖北省教育廳科研項目(批準號:B2014026) 湖北理工學院創(chuàng)新人才項目(批準號:13xjz05c)、湖北理工學院優(yōu)秀青年科技創(chuàng)新團隊項目(批準號:13xtz10)、湖北理工學院大學生創(chuàng)新項目(批準號:13cx25)資助
【分類號】：TN407
【正文快照】： 1引言掃描結(jié)構(gòu)是近年來集成電路測試最常用的可測試性設計方法.目前存在的通用掃描結(jié)構(gòu)可以歸納為3大類,第1類是直鏈掃描結(jié)構(gòu),第2類是隨機訪問掃描結(jié)構(gòu)(RAS),第3類是具有循環(huán)功能的循環(huán)掃描鏈結(jié)構(gòu).直鏈結(jié)構(gòu)是應用最廣泛的可測試性結(jié)構(gòu).它主要包括單掃描鏈結(jié)構(gòu)(conventional si，

本文編號：1162791