發(fā)布時(shí)間：2024-04-01 03:46

　　介紹了運(yùn)用晶硅太陽(yáng)能電池電致發(fā)光成像法檢測(cè)分析太陽(yáng)能電池組件缺陷的方法�；诰w硅電池的電致發(fā)光理論,分析電致發(fā)光強(qiáng)度與少數(shù)載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度、開(kāi)路電壓之間的關(guān)系,并對(duì)電池組件電致發(fā)光圖像缺陷進(jìn)行理論分析和實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。研究結(jié)果表明:使用合格的電池、在合格的組件制造環(huán)節(jié)中封裝的組件,電池片開(kāi)路電壓的差異會(huì)造成組件EL圖像的明暗差異。

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【部分圖文】：

圖1平衡PN結(jié)的能帶

晶體硅PN結(jié)中存在由P區(qū)指向N區(qū)的內(nèi)建電場(chǎng)E，平衡狀態(tài)下載流子的擴(kuò)散電流和漂移電流抵消，PN結(jié)內(nèi)部電流為零，費(fèi)米能級(jí)能帶圖見(jiàn)圖1[2]。當(dāng)太陽(yáng)能電池施加正向偏壓V時(shí)，由于與內(nèi)建電場(chǎng)VD反向，減弱了勢(shì)壘區(qū)內(nèi)建電場(chǎng)的強(qiáng)度，勢(shì)壘寬度qVD下降到q(VD-V)，正向偏壓打破了載流子擴(kuò)散....

圖2正向偏壓下PN結(jié)能帶

圖1平衡PN結(jié)的能帶圖3晶硅電池電致發(fā)光光譜

圖3晶硅電池電致發(fā)光光譜

圖2正向偏壓下PN結(jié)能帶2實(shí)驗(yàn)測(cè)試及分析

圖4電致發(fā)光強(qiáng)度與有效擴(kuò)散長(zhǎng)度關(guān)系

在不同外加電流下，發(fā)光強(qiáng)度均與載流子有效擴(kuò)散長(zhǎng)度成正比[5]，如圖4[6]。通過(guò)光譜分析儀（澳大利亞BTImaging,LIS-R1）和光生誘導(dǎo)電流掃描儀（Lightbeaminducedcurrent,LBIC,匈牙利Semilab,WT2000）對(duì)電池片測(cè)試EL(圖5....

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