壓敏電阻由于受到大電流的沖擊,其內(nèi)部結(jié)構(gòu)不可避免地存在老化劣化現(xiàn)象,將會對系統(tǒng)的安全運行產(chǎn)生較大隱患�；谏鲜鲈�,研究大電流沖擊作用下,ZnO壓敏電阻特性變化具有較重要的現(xiàn)實意義。本文圍繞ZnO壓敏電阻在大電流沖擊老化作用下器件特性變化這一問題,基于8/20μs電流沖擊老化試驗,對ZnO壓敏電阻樣品的宏觀電容量特性,殘壓比,交流老化特性在試驗前后性能的變化進行了相應分析,并得到下述結(jié)論：ZnO壓敏電阻的C-t特性曲線在接受沖擊后呈現(xiàn)出先降低后增長的趨勢,基于Block-Model對影響ZnO壓敏電阻宏觀電容量的參數(shù)進行分析可知,宏觀電容量的變化是由中電場區(qū)域生成的深能級施主復合和界面態(tài)俘獲電子釋放過程導致的,提出宏觀電容量的變化可以作為判斷老化的依據(jù)。通過實驗表明在標稱電流(In)沖擊下,宏觀電容量呈現(xiàn)先小幅下降,后不斷上升趨勢；宏觀電容量和壓敏電壓的乘積在老化初期基本不變,老化到一定程度后急劇下降,而在最大電流(Imx)沖擊下,宏觀電容量快速上升且宏觀電容量和壓敏電壓的乘積不斷下降,在此實驗結(jié)論基礎(chǔ)上描述了沖擊老化過程中晶界特性的變化特征,并得出結(jié)合宏觀電容量能夠更及時有效地衡量壓...

【文章頁數(shù)】：77 頁

【學位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第一章 緒論
    1.1 研究目的及意義
    1.2 國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀
        1.2.1 ZnO壓敏電阻宏觀電容量研究現(xiàn)狀
        1.2.2 ZnO壓敏電阻殘壓比研究現(xiàn)狀
        1.2.3 ZnO壓敏電阻交流老化特性的研究現(xiàn)狀
        1.2.4 ZnO壓敏電阻老化性能研究現(xiàn)狀
    1.3 論文的研究內(nèi)容及安排
    參考文獻
第二章 8/20μs電流沖擊對ZnO壓敏電阻宏觀電容量的影響
    2.1 氧化鋅壓敏電阻宏觀電容量
        2.1.1 基于磚塊模型的宏觀電容量計算方法
        2.1.2 宏觀電容量與阻性電流的關(guān)系
    2.2 ZnO壓敏電阻導電機理
        2.2.1 微觀結(jié)構(gòu)
        2.2.2 晶界勢壘模型
            2.2.2.1 低電場區(qū)域的導電機理
            2.2.2.2 中電場區(qū)域的導電機理
            2.2.2.3 高電場區(qū)域的導電機理
        2.2.3 氧化鋅壓敏電阻片的老化劣化機理
            2.2.3.1 直流老化機理
            2.2.3.2 交流老化機理
            2.2.3.3 沖擊老化機理
    2.3 8/20μs電流沖擊后ZnO壓敏電阻宏觀電容量隨時間變化特性
        2.3.1 研究目的
        2.3.2 試驗樣品及設(shè)備
        2.3.3 沖擊老化試驗過程
        2.3.4 實驗結(jié)果及其分析
            2.3.4.1 沖擊老化實驗結(jié)果
            2.3.4.2 分析與討論
        2.3.5 結(jié)論
    2.4 8/20μs電流沖擊后ZnO壓敏電阻宏觀電容量老化特性的變化
        2.4.1 宏觀電容量與壓敏電壓U_1mA的關(guān)系
        2.4.2 試驗樣品與設(shè)備
        2.4.3 8/20μs電流沖擊試驗過程與注意事項
        2.4.4 標稱沖擊電流(I_n)試驗
        2.4.5 最大沖擊電流(I_max)試驗
        2.4.6 結(jié)論
    2.5 本章小結(jié)
    參考文獻
第三章 8/20μs電流沖擊后ZnO壓敏電阻殘壓比的變化
    3.1 殘壓比的研究意義
        3.1.1 殘壓比的影響因素
    3.2 實驗方案及結(jié)果分析
        3.2.1 實驗試樣與測試設(shè)備
        3.2.2 標稱電流(I_n)沖擊老化實驗
        3.2.3 最大電流(I_max)沖擊老化實驗
    3.3 結(jié)論
    3.4 本章小結(jié)
    參考文獻
第四章 8/20μs電流沖擊對ZnO壓敏電阻交流老化特性的影響
    4.1 ZnO壓敏電阻交流老化特性的研究意義
        4.1.1 ZnO壓敏電阻的特性參數(shù)
    4.2 實驗方案
        4.2.1 實驗試樣與測試設(shè)備
        4.2.2 沖擊老化實驗
        4.2.3 交流老化實驗
    4.3 實驗結(jié)果與討論
        4.3.1 沖擊后樣品靜態(tài)參數(shù)的變化
        4.3.2 交流老化后樣品靜態(tài)參數(shù)的變化
    4.4 結(jié)論
    4.5 本章小結(jié)
    參考文獻
第五章 總結(jié)
作者簡介
致謝



本文編號：3913535