ZnO壓敏電阻的老化主要由施加電壓及溫度因素造成,為研究其在工作電壓下的熱電特性,利用建立的壓敏電阻交、直流老化試驗(yàn)平臺(tái),開展了熱電應(yīng)力下壓敏電阻溫度特性、荷電率特性及直流老化特性的試驗(yàn)研究。結(jié)果表明:1)直流電壓荷電率(電壓與壓敏電壓的比值)在85%～92%區(qū)間,泄漏電流和功耗隨荷電率增大有下降趨勢(shì),而交流電壓下兩參數(shù)隨荷電率的增加而增加; 2)直流老化試驗(yàn)中,在97%荷電率和145℃溫度下,10K250壓敏電阻的泄漏電流經(jīng)歷了快速下降、緩慢上升、激增3個(gè)階段。泄漏電流的劇增點(diǎn)(增長到初始值的900%),壓敏電壓(流過電阻片的直流電流為1 m A時(shí)的直流壓敏電壓)的變化小于1%,因此,將壓敏電壓值降為初始值的10%作為老化試驗(yàn)壽命終結(jié)判據(jù)是否合理有待進(jìn)一步的研究。

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【文章目錄】：
0 引言
1 Zn O壓敏電阻交直流老化試驗(yàn)系統(tǒng)
2 Zn O壓敏電阻交、直流老化試驗(yàn)
    2.1 壓敏電阻特性試驗(yàn)方法
        2.1.1 暫態(tài)特性試驗(yàn)
        2.1.2 長期老化特性試驗(yàn)
    2.2 壓敏電阻的交、直流暫態(tài)特性試驗(yàn)
        2.2.1 交、直流暫態(tài)試驗(yàn)結(jié)果
        2.2.2 交、直流暫態(tài)特性試驗(yàn)結(jié)果分析
    2.3 直流老化試驗(yàn)
        2.3.1 直流老化試驗(yàn)結(jié)果
        2.3.2 直流老化試驗(yàn)結(jié)果分析
3 結(jié)論



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