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LTT硅膠保護(hù)層作用機(jī)理及性能影響因素研究

發(fā)布時(shí)間:2021-01-27 00:57
  對(duì)光控晶閘管(LTT)硅膠保護(hù)層的作用機(jī)理及性能影響因素進(jìn)行了研究。硅膠作為L(zhǎng)TT表面保護(hù)層,能顯示出負(fù)電荷效應(yīng),對(duì)正角造型的LTT反向阻斷能力有明顯的改善作用。原材料、涂覆工藝、固化工藝等都對(duì)硅膠保護(hù)層性能有顯著影響,此處通過(guò)試驗(yàn)方法獲得了制備最佳性能硅膠保護(hù)層的工藝條件。 

【文章來(lái)源】:電力電子技術(shù). 2020,54(10)北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】:4 頁(yè)

【部分圖文】:

LTT硅膠保護(hù)層作用機(jī)理及性能影響因素研究


圖1表面空間電荷區(qū)擴(kuò)展示意圖??Fig.?1?Schematic?of?expansion?of?surface?space?charge?region??

關(guān)系曲線,關(guān)系曲線,溫度,固化時(shí)間


第54卷第10期??2020年10月??電力電子技術(shù)??Power?Electronics??Vol.54,?No.?10??October?2020??的固化,固化在同一烘箱進(jìn)行,升溫速率與固化時(shí)??間均一致,漏電流控制在50?mA?xí)r,LTT表面平均??阻斷電壓與硅膠固化溫度關(guān)系曲線如圖2所示。??210?230?260?300??T/V??圖2關(guān)系曲線1??Fig.?2?The?relation?curve?1??由圖可知,固化后LTT阻斷電壓隨固化溫度??的升高先升高后降低,當(dāng)超過(guò)某一溫度時(shí),阻斷電??壓會(huì)急劇下降,說(shuō)明此時(shí)的固化溫度己經(jīng)超過(guò)硅??膠材料的熱耐受溫度,硅膠保護(hù)層己經(jīng)發(fā)生脆變??老化,從而導(dǎo)致器件表面阻斷能力急劇下降。??4.3.2?固化時(shí)間的確定??以每組5個(gè)LTT分5組對(duì)其進(jìn)行不同時(shí)間下??的固化,固化溫度均為上面確定的最佳固化溫度,??固化在同一烘箱進(jìn)行,升溫速率一致,漏電流控制??在50?mA?xí)r,LTT表面平均阻斷電壓與硅膠固化??時(shí)間關(guān)系曲線如圖3所示。??固化后??83?30?40?50?60?70??//min??圖3關(guān)系曲線2??Fig.?3?The?relation?curve?2??由圖可知,固化后LIT阻斷電壓隨固化時(shí)間??的延長(zhǎng)先明顯升高后緩慢降低,說(shuō)明硅膠保護(hù)層??不能固化過(guò)度,只有在某一合適的溫度、時(shí)間范圍??內(nèi)才能獲得最佳電學(xué)特性和機(jī)械性能。??4.3.3?升溫速率的確定??以每組5個(gè)LIT分4組對(duì)其進(jìn)行不同升溫速??率的固化,固化溫度和固化時(shí)間均為上面確定的??最佳固化溫度和最佳固化時(shí)間,固化在同一烘箱??進(jìn)行,漏電流控制在50?m

關(guān)系曲線,關(guān)系曲線,硅膠,保護(hù)層


ig.?3?The?relation?curve?2??由圖可知,固化后LIT阻斷電壓隨固化時(shí)間??的延長(zhǎng)先明顯升高后緩慢降低,說(shuō)明硅膠保護(hù)層??不能固化過(guò)度,只有在某一合適的溫度、時(shí)間范圍??內(nèi)才能獲得最佳電學(xué)特性和機(jī)械性能。??4.3.3?升溫速率的確定??以每組5個(gè)LIT分4組對(duì)其進(jìn)行不同升溫速??率的固化,固化溫度和固化時(shí)間均為上面確定的??最佳固化溫度和最佳固化時(shí)間,固化在同一烘箱??進(jìn)行,漏電流控制在50?mA?xí)r,LTT表面平均阻斷??電壓與固化升溫速率關(guān)系曲線如圖4所示。由圖??可知,固化升溫速率只要不超過(guò)某一個(gè)值,對(duì)硅膠??保護(hù)層特性影響不明顯。至此,此處通過(guò)試驗(yàn)確定??的最佳固化工藝條件能使硅膠保護(hù)層獲得最好的??固化結(jié)構(gòu),從而得到最佳性能的硅膠保護(hù)層。??固化后??8.6?-?*?' ̄??A/"C.s_i??圖4關(guān)系曲線3??Fig.?4?The?relation?curve?3??5結(jié)論??文獻(xiàn)[8]綜述了國(guó)內(nèi)外學(xué)者對(duì)高壓直流輸電系??統(tǒng)的可靠性展開(kāi)了研宄,但是缺少對(duì)晶閘管內(nèi)部??失效物理機(jī)理的研宄。此處通過(guò)對(duì)高肇直流LIT??故障原因剖析:部分LTT硅膠黏粘性差,易剝落。??根據(jù)此現(xiàn)象,此處從硅膠的材料,及其在LTT制造??工藝的工藝過(guò)程,分析了硅膠保護(hù)層對(duì)LTT表面??的作用機(jī)理。通過(guò)LTT工藝對(duì)比試驗(yàn)驗(yàn)證、表面??阻斷特性測(cè)試等,確定了?LTT硅膠保護(hù)層的性能??影響因素;確定了獲得最佳性能硅膠保護(hù)層的工??藝條件。在此工藝條件下制備的硅膠保護(hù)層能夠??起到很好的保護(hù)層、隔絕層、電特性穩(wěn)定層的作??用。通過(guò)試驗(yàn)可以調(diào)整改進(jìn)制造工藝,提高LTT??的可靠性。??參

【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
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