本文選題：柱上開關(guān) + FTU控制器��； 參考：《電工技術(shù)學報》2015年08期

【摘要】：隨著智能電網(wǎng)的建設和發(fā)展,對智能化一次設備提出了更高的要求,二次控制與保護裝置的安全可靠運行是實現(xiàn)一次設備智能化的重要保障。柱上開關(guān)是配電系統(tǒng)中作為保護與控制的關(guān)鍵設備,其在開斷燃弧過程產(chǎn)生的高頻信號是二次智能裝置中最嚴重的電磁干擾來源之一,它可能會造成二次裝置出現(xiàn)故障,所以研究柱上開關(guān)開斷對二次智能設備的電磁干擾問題具有重要意義。本文利用合成試驗回路對10k V柱上開關(guān)進行合成開斷試驗,采集了電流互感器輸出電流信號,FTU控制器輸入及輸出電流信號,并對采集的波形數(shù)據(jù)進行時頻特性分析,得到了開關(guān)分斷時對二次側(cè)信號干擾的頻帶及能量分布情況,結(jié)果表明:柱上開關(guān)開斷對電流互感器二次側(cè)、FTU控制器均產(chǎn)生了瞬態(tài)電磁干擾;柱上開關(guān)開斷燃弧過程引起的干擾主要分布在頻帶7.81~15.62MHz;電弧過零引起的干擾主要分布在31.25~62.5MHz;瞬態(tài)恢復電壓引起的瞬態(tài)干擾主要分布在31.25~125MHz。
[Abstract]:With the construction and development of smart grid, higher requirements are put forward for the intelligent primary equipment. The safe and reliable operation of the secondary control and protection device is an important guarantee to realize the intelligentization of the primary equipment. As the key equipment of protection and control in the distribution system, the high frequency signal generated by the on-off switch is one of the most serious sources of electromagnetic interference in the secondary intelligent device, which may cause the failure of the secondary device. Therefore, it is of great significance to study the electromagnetic interference problem of the secondary intelligent equipment. In this paper, the synthetic test circuit is used to test the switch on the 10kV column, the output current signal of the current transformer is collected and the input and output current signals of the FTU controller are collected, and the time-frequency characteristic of the collected waveform data is analyzed. The frequency band and energy distribution of the interference to the secondary side signal are obtained when the switch is broken. The results show that the on-off switch on the column produces transient electromagnetic interference on the FTU controller of the secondary side of the current transformer. The interference caused by on-off arc on the column is mainly distributed in the frequency band 7.81n 15.62MHz, the interference caused by the zero-crossing arc mainly distributes at 31.25m 62.5MHz, and the transient disturbance caused by the transient recovery voltage is mainly distributed at 31.25m 125MHz.
【作者單位】： 武漢大學電氣工程學院;平高集團有限公司;
【基金】：“十一五”國家科技支撐計劃項目(2009BAA19B05) 平高集團通用電氣公司新產(chǎn)品開發(fā)資助項目(PGKJTY2013-072)
【分類號】：TM564

【參考文獻】

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【共引文獻】

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本文編號：1991260