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CuInS2薄膜電池的數(shù)值模擬研究

發(fā)布時(shí)間:2021-03-02 10:44
  CuInS2因其高吸收系數(shù)(105cm-1)和與太陽(yáng)光譜匹配的禁帶寬度(1.53eV)成為一種理想的薄膜太陽(yáng)能電池吸收層材料。然而,目前實(shí)驗(yàn)室中CuInS2薄膜電池的最高光電轉(zhuǎn)換效率(13%)遠(yuǎn)低于理論效率28.6%和同體系Cu(In, Ga)Se2電池的最高效率20.8%。解決CuInS2薄膜電池低轉(zhuǎn)換效率問(wèn)題主要途徑有:a)深入研究吸收層的光電性質(zhì)、缺陷等對(duì)電池性能的影響機(jī)理;b)通過(guò)優(yōu)化電池結(jié)構(gòu)進(jìn)一步提升電池轉(zhuǎn)換效率。因此,通過(guò)理論擬合來(lái)研究組成電池的各層材料的性質(zhì)參數(shù)對(duì)電池性能的影響,從而實(shí)現(xiàn)電池組成材料的優(yōu)選和電池結(jié)構(gòu)的優(yōu)化設(shè)計(jì)研究,兼具重要的學(xué)術(shù)意義和實(shí)用價(jià)值。 本論文運(yùn)用AMPS-1D軟件模擬研究CuInS2薄膜電池,模擬中涉及到的吸收層CuInS2和透明導(dǎo)電層ZnO:Al的吸收系數(shù)由激光脈沖沉積PLD法制備的薄膜通過(guò)透射光譜測(cè)試得到。 首先,我們模擬了具有典型結(jié)構(gòu)(Al/ZnO:Al/CdS/CuInS2/Mo)的CuInS2薄膜電池中CuInS2禁帶寬度、厚度以及CdS厚度對(duì)電池性能的影響。模擬結(jié)果表明:理想的吸收層CuInS2厚度和禁帶寬度分別為~2000nm和~1.40eV,緩沖層CdS理想厚度為40-50nm。所得電池的最優(yōu)性能參數(shù)為:Eff=21.3%、Voc=0.97V、Jsc=26.4mA/cm2和FF=0.83。 其次,我們進(jìn)一步優(yōu)化所模擬的電池結(jié)構(gòu),以寬禁帶、無(wú)毒的Zn(O,S)替換窄禁帶、有毒的CdS作為緩層,并且在CuInS2/Zn(O,S)界面插入了一層很薄的界面層來(lái)模擬實(shí)驗(yàn)制備的薄膜在CuInS2/Zn(O,S)界面處所存在的界面缺陷。我們系統(tǒng)研究了吸收層、緩沖層以及界面層的相對(duì)介電常數(shù)、缺陷濃度、自由施主濃度和背電極勢(shì)壘高度等等對(duì)電池性能的影響。結(jié)果表明,電池各層材料的理想?yún)?shù)分別為:緩沖層Zn(O,S)厚度為50nn3,電子遷移率μn5cm2/V-s,摻雜濃度Nd1018cm-3;吸收層CuInS2禁帶寬度~1.4eV,厚度~2000nm,相對(duì)介電常數(shù)(EPS)12,晶體缺陷濃度5×1015cm-3,電子遷移率μn70cm2/V·s Mo背電極層與吸收層CuInS2的理想界面接觸勢(shì)壘應(yīng)小于0.24eV。 最后,我們模擬研究了以Zn(O,S)為緩層的CuInS2薄膜電池的價(jià)帶、導(dǎo)帶補(bǔ)償對(duì)電池性能的影響,并且模擬研究了以不同硫含量Zn(O,S)為緩層的CuInS2薄膜電池性能,還設(shè)計(jì)了一種以梯度Zn(O,S)(graded-Zn(O,S))為緩層的CuInS2薄膜電池,并且模擬計(jì)算了其性能。研究結(jié)果表明:對(duì)于以Zn(O,S)為緩沖層的高效率CuInS2薄膜電池的能帶結(jié)構(gòu)要求:|△Ecba|0.2eV且|△Ecwb|0.4eV:硫含量x為0.57時(shí),以單層Zn(O,S)為緩沖層的CuInS2薄膜電池最佳性能為:Eff=14.6%、Jsc=23.2mA/cm2、FF=0.68、Voc=0.93V。以多層graded-Zn(O,S)為緩沖層的CuInS2薄膜電池的最高模擬光電轉(zhuǎn)換效率Eff=20.8%,且具有很高的填充因子FF=0.86。 本文的模擬結(jié)果將對(duì)CuInS2薄膜電池的設(shè)計(jì)和實(shí)驗(yàn)研究起到指導(dǎo)作用。所提出的以多層graded-Zn(O,S)為緩沖層的CuInS2薄膜電池相比傳統(tǒng)電池不僅具有環(huán)保優(yōu)勢(shì),而且具有很高的光電轉(zhuǎn)換效率。
【學(xué)位授予單位】:湖北大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2014
【分類(lèi)號(hào)】:TM914.42
文章目錄
摘要
Abstract
目錄
第一章 緒論
    1.1 太陽(yáng)能電池
        1.1.1 太陽(yáng)能電池發(fā)展史及研究現(xiàn)狀
        1.1.2 半導(dǎo)體薄膜太陽(yáng)能電池的結(jié)構(gòu)
        1.1.3 半導(dǎo)體薄膜太陽(yáng)能電池吸收層材料的選擇及種類(lèi)
    1.2 CuInS2薄膜太陽(yáng)能電池
        1.2.1 CuInS2材料的基本性質(zhì)
        1.2.2 CuInS2薄膜電池的研究現(xiàn)狀及問(wèn)題
        1.2.3 本課題的選題依據(jù)和主要研究?jī)?nèi)容
第二章 半導(dǎo)體薄膜電池模擬軟件基本介紹
    2.1 引言
    2.2 半導(dǎo)體薄膜電池模擬軟件種類(lèi)
        2.2.1 SCAPS模擬軟件簡(jiǎn)介
        2.2.2 PC1D模擬軟件簡(jiǎn)介
        2.2.3 AFORS-HET模擬軟件簡(jiǎn)介
    2.3 AMPS-1D的介紹及其基本原理
        2.3.1 AMPS-1D基本介紹
        2.3.2 AMPS-1D模擬基本方程
        2.3.3 AMPS-1D模擬所需參數(shù)
        2.3.4 AMPS-1D軟件模擬計(jì)算結(jié)果
        2.3.5 AMPS-1D模擬軟件的特征
第三章 以CdS為緩沖層的CuInS2薄膜電池的數(shù)值模擬研究
    3.1 引言
    3.2 模擬所需的組成電池的各層材料參數(shù)
    3.3 數(shù)值模擬結(jié)果及討論
        3.3.1 吸收層CuInS2不同禁帶寬度Eg,a對(duì)電池性能的影響
        3.3.2 吸收層CuInS2不同厚度da對(duì)電池性能的影響
        3.3.3 緩沖層CdS不同厚度db對(duì)電池性能的影響
    3.4 本章小結(jié)
第四章 以單層Zn(O,S)為緩沖層的CuInS2薄膜電池的模擬研究
    4.1 引言
    4.2 模擬所需的各層材料參數(shù)
    4.3 數(shù)值模擬結(jié)果及討論
        4.3.1 吸收層CuInS2的最佳參數(shù)
        4.3.2 緩沖層Zn(O,S)的最佳參數(shù)
        4.3.3 緩沖層/吸收層界面缺陷濃度對(duì)電池性能的影響
        4.3.4 器件參數(shù)對(duì)電池性能的影響
    4.4 本章小結(jié)
第五章 以graded-Zn(O,S)為緩沖層的CuInS2薄膜電池結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
    5.1 引言
    5.2 模擬所需的組成電池的各層材料參數(shù)
    5.3 數(shù)值模擬結(jié)果及討論
        5.3.1 能帶補(bǔ)償△EVba、△Cba和△ECwb對(duì)電池性能的影響
        5.3.2 以不同結(jié)構(gòu)Zn(O,S)為緩沖層的CuInS2薄膜電池性能
    5.4 本章小結(jié)
全文總結(jié)與展望
參考文獻(xiàn)
附錄
致謝
 

【參考文獻(xiàn)】

 

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1 任丙彥;張燕;郭貝;張兵;李洪源;許穎;王文靜;;N型單晶硅襯底上非晶硅/單晶硅異質(zhì)結(jié)太陽(yáng)電池計(jì)算機(jī)模擬[J];太陽(yáng)能學(xué)報(bào);2008年09期

2 蘇孫慶;;多晶硅薄膜太陽(yáng)能電池的研究進(jìn)展[J];技術(shù)物理教學(xué);2007年02期



本文編號(hào):1841347

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