基于局部放電理論的聚合物電介質(zhì)擊穿動力學(xué)理論研究
本文選題:局部放電模型 切入點:非平衡統(tǒng)計理論 出處:《物理學(xué)報》2014年11期
【摘要】:隨著電力設(shè)備電壓等級的提高,對電力設(shè)備中聚合物電介質(zhì)材料的可靠性提出了更加嚴(yán)格的要求,然而由于聚合物電介質(zhì)材料在生產(chǎn)制造過程中不可避免的存在氣泡、雜質(zhì)等缺陷,導(dǎo)致在高電場作用下會發(fā)生局部放電從而大大降低了電力設(shè)備的使用壽命.因此,為了預(yù)防和減少電力設(shè)備中因聚合物電介質(zhì)材料老化所帶來的事故,需要合理地估算其電老化壽命.本文從局部放電老化模型的微觀機理出發(fā),利用非平衡態(tài)統(tǒng)計理論建立了電裂紋不斷擴展的隨機微分方程,然后推導(dǎo)出聚合物電介質(zhì)的擊穿概率、可靠性以及電老化壽命與外加電場的函數(shù)關(guān)系.最后,對聚苯二甲酸乙二醇酯(polyetllyleneterephthalate,PET)薄膜材料進行具體分析,將電老化壽命公式的理論值與實驗數(shù)據(jù)作了比較,發(fā)現(xiàn)實驗數(shù)據(jù)與理論值較為相符.因此,本文推導(dǎo)的聚合物電介質(zhì)電老化壽命公式可以有效地應(yīng)用在定量分析中,并有望為材料的電壽命預(yù)測提供幫助.
[Abstract]:With the increase of power equipment voltage grade, the reliability of polymer dielectric materials in power equipment is required more strictly. However, because of the inevitable existence of bubbles in the manufacturing process of polymer dielectric materials, In order to prevent and reduce the accidents caused by the aging of polymer dielectric materials in power equipment, some defects, such as impurity, lead to partial discharge under the action of high electric field, which greatly reduces the service life of power equipment. It is necessary to estimate the electrical aging life reasonably. Based on the microscopic mechanism of the partial discharge aging model, a stochastic differential equation for the continuous growth of electric cracks is established by using the statistical theory of non-equilibrium states. Then the functional relationship between the breakdown probability, reliability and electric aging life of polymer dielectric and the applied electric field is derived. Finally, the material of Poly (ethylene glycol phthalate) polyethylenetephthalate (PET) film is analyzed in detail. The theoretical value of the formula of electric aging life is compared with the experimental data, and it is found that the experimental data are in good agreement with the theoretical value. Therefore, the formula of electroaging life of polymer dielectric derived in this paper can be effectively applied in quantitative analysis. It is expected to be helpful to predict the electrical life of materials.
【作者單位】: 北京理工大學(xué)物理學(xué)院;
【基金】:國家自然科學(xué)基金(批準(zhǔn)號:11272053)資助的課題~~
【分類號】:TM215
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,本文編號:1659001
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