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標(biāo)準(zhǔn)電容器的溫度系數(shù)試驗(yàn)

發(fā)布時(shí)間:2018-01-16 22:01

  本文關(guān)鍵詞:標(biāo)準(zhǔn)電容器的溫度系數(shù)試驗(yàn) 出處:《電測(cè)與儀表》2015年S1期  論文類型:期刊論文


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【摘要】:作為實(shí)物計(jì)量器具的標(biāo)準(zhǔn)電容器,環(huán)境溫度的變化是引起其容量變化的主要因素。依據(jù)JJG183-1992《標(biāo)準(zhǔn)電容器檢定規(guī)程》,對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電容器進(jìn)行了溫度系數(shù)試驗(yàn),驗(yàn)證了不同介質(zhì)材料制造的標(biāo)準(zhǔn)電容器的溫度特性,為標(biāo)準(zhǔn)電容器的檢定校準(zhǔn)工作提供了試驗(yàn)依據(jù)。
[Abstract]:As the standard capacitor of physical measurement instrument, the change of ambient temperature is the main factor that causes its capacity change. According to JJG183-1992, the verification regulation of standard capacitor. The temperature coefficient of the standard capacitor is tested to verify the temperature characteristics of the standard capacitor made of different dielectric materials, which provides the test basis for the calibration of the standard capacitor.
【作者單位】: 中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院;成都開譜電子科技有限公司;
【分類號(hào)】:TM53
【正文快照】: 0引言作為實(shí)物器具的標(biāo)準(zhǔn)電容器,其主要性能指標(biāo)包括穩(wěn)定性好、受環(huán)境影響要小、介質(zhì)損耗小、絕緣電阻高和漏電流小等。其中,環(huán)境溫度的變化是影響電容量值穩(wěn)定的主要因素,在JJG183-1992《標(biāo)準(zhǔn)電容器檢定規(guī)程》中,詳細(xì)地規(guī)定了不同準(zhǔn)確度級(jí)別標(biāo)準(zhǔn)電容器應(yīng)具有的溫度系數(shù)指標(biāo)[1

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4 周蒲英;標(biāo)準(zhǔn)電容器的精度問(wèn)題[J];湘潭師范學(xué)院學(xué)報(bào);1995年03期

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1 郭天興;吳俊莉;張建平;;有限元法在標(biāo)準(zhǔn)電容器電場(chǎng)計(jì)算中的應(yīng)用[A];二○○二電力電容器學(xué)會(huì)論文集[C];2002年

2 郭天興;;1000kV標(biāo)準(zhǔn)電容器的電容穩(wěn)定性能研究[A];2004年電力電容器學(xué)會(huì)論文集[C];2004年

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1 吳春風(fēng);1200kV特高壓正立式標(biāo)準(zhǔn)電容器的研制[D];華北電力大學(xué)(北京);2009年

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本文編號(hào):1434983

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