氣體絕緣金屬封閉輸電線(xiàn)路作為一種新型的輸電技術(shù)廣泛應(yīng)用于世界各地,其研究熱點(diǎn)之一是GIL系統(tǒng)內(nèi)部絕緣問(wèn)題,包括GIL中輸送、組裝、運(yùn)轉(zhuǎn)中產(chǎn)生的金屬顆粒以及高壓運(yùn)行時(shí)帶電自由運(yùn)動(dòng)引發(fā)的氣體擊穿和絕緣子沿面閃絡(luò)。本文圍繞直流GIL中金屬微粒對(duì)其絕緣造成危害問(wèn)題和典型絕緣故障,分別從微粒運(yùn)動(dòng)和引起絕緣子沿面閃絡(luò)開(kāi)展試驗(yàn)研究,主要內(nèi)容如下:(1)建立了金屬微粒在GIL同軸圓柱電極結(jié)構(gòu)中不同位置電場(chǎng)的受力模型,分析了金屬微粒受力。搭建金屬微粒運(yùn)動(dòng)觀(guān)測(cè)試驗(yàn)平臺(tái),確定了試驗(yàn)步驟和圖像處理方法。對(duì)同軸圓柱電極試驗(yàn)腔體內(nèi)部進(jìn)行電場(chǎng)分布仿真研究。(2)針對(duì)直流GIL內(nèi)部自由運(yùn)動(dòng)的金屬微粒開(kāi)展了試驗(yàn)研究,通過(guò)改變微粒尺寸、SF6氣體壓強(qiáng)、極性等,分析了不同試驗(yàn)條件下金屬微粒運(yùn)動(dòng)規(guī)律。研究結(jié)果表明:金屬微粒起舉場(chǎng)強(qiáng)與其半徑呈正相關(guān);金屬微粒起舉方式與其長(zhǎng)度和SF6氣體壓強(qiáng)密切相關(guān);負(fù)極性時(shí),微粒易在導(dǎo)桿附近發(fā)生飛螢現(xiàn)象,微粒在絕緣子附近會(huì)沿表面攀援而上或與表面碰撞,而絕緣子的存在對(duì)微粒軸向運(yùn)動(dòng)影響并不明顯。(3)為了研究線(xiàn)形金屬微粒對(duì)盆式絕緣子直流沿面閃絡(luò)特性的影響,用金屬銅針模擬金屬微粒,并應(yīng)用實(shí)驗(yàn)手段測(cè)量...

【文章頁(yè)數(shù)】：56 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖1.1金屬微Fig.1.1Failureofm

沈陽(yáng)工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文21.1.2直流GIL中金屬微粒污染問(wèn)題研究意義根據(jù)可靠運(yùn)行的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示，電氣設(shè)備內(nèi)部的大多數(shù)故障是由電氣設(shè)備在加工生產(chǎn)、裝配、運(yùn)輸和使用過(guò)程中不可避免地產(chǎn)生的金屬顆粒引起的，并且自由導(dǎo)電顆粒的存在將導(dǎo)致SF6絕緣強(qiáng)度降低80%以上。GIL系統(tǒng)中金屬微粒....

圖2.1微粒運(yùn)Fig.2.1Particlem

第2章直流GIL中金屬微粒受力模型建立9位于電極表面發(fā)生起跳時(shí)和往返于電極之間的飛行過(guò)程，見(jiàn)圖2.1；如果金屬顆粒在絕緣子與管道的接觸面附近，則可將金屬顆粒劃分為電極表面顆粒和氣隙中顆粒，其中G為重力，F(xiàn)f為粒子在靜止?fàn)顟B(tài)下與電極表面接觸的摩擦力，F(xiàn)v為空氣間隙中移動(dòng)的與移動(dòng)方向....

圖2.2盆式絕緣子下微粒運(yùn)動(dòng)受力模型

第2章直流GIL中金屬微粒受力模型建立9位于電極表面發(fā)生起跳時(shí)和往返于電極之間的飛行過(guò)程，見(jiàn)圖2.1；如果金屬顆粒在絕緣子與管道的接觸面附近，則可將金屬顆粒劃分為電極表面顆粒和氣隙中顆粒，其中G為重力，F(xiàn)f為粒子在靜止?fàn)顟B(tài)下與電極表面接觸的摩擦力，F(xiàn)v為空氣間隙中移動(dòng)的與移動(dòng)方向....

圖2.4試驗(yàn)回路圖

沈陽(yáng)工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文12種同軸電極下金屬微粒三維運(yùn)動(dòng)形態(tài)試驗(yàn)測(cè)量裝置，包括試驗(yàn)腔體和測(cè)量系統(tǒng)，試驗(yàn)腔體主要包括透明外殼、金屬蓋板、透明蓋板、中心導(dǎo)桿、透明導(dǎo)電薄膜、不銹鋼支撐桿，測(cè)量系統(tǒng)包括平面鏡和高速攝像機(jī)。該試驗(yàn)腔體為圓筒狀，外殼材質(zhì)為透明亞克力板，以實(shí)現(xiàn)對(duì)金屬微粒軸向運(yùn)....

本文編號(hào)：3975341