電子元器件在使用過程中的可靠性問題已成為武器裝備失效的主要原因。電磁繼電器又是電子元器件中可靠性最差的器件,是短板中的短板。因此有效評(píng)估電磁繼電器在使用過程中的可靠性刻不容緩。當(dāng)前繼電器退化相關(guān)研究大多以整機(jī)性能參數(shù)（吸合時(shí)間、吸合電壓等）表征特征參數(shù)作為退化評(píng)估特征參數(shù),這種以整機(jī)性能參數(shù)進(jìn)行的可靠性評(píng)估與壽命預(yù)測(cè)雖然對(duì)繼電器的應(yīng)用起到了一定的指導(dǎo)作用,但對(duì)繼電器進(jìn)行優(yōu)化,提升可靠壽命無實(shí)質(zhì)作用。根本原因是當(dāng)前基于整機(jī)表征特性參數(shù)的繼電器可靠壽命評(píng)估模型,不能反映繼電器工作過程中失效（觸點(diǎn)無法接通）、電參數(shù)超差（接觸電阻超程、吸合釋放電壓超差等）的形成原因,也就無法從根本上找到導(dǎo)致繼電器可靠壽命較差的原因,無法對(duì)繼電器可靠壽命設(shè)計(jì)提供指導(dǎo)。本課題首先分析繼電器觸簧系統(tǒng)在循環(huán)載荷作用下的退化失效機(jī)理;結(jié)合隨機(jī)不確定性理論,實(shí)現(xiàn)繼電器觸簧系統(tǒng)性能退化的建模與分析�；谘b配參數(shù)超程、間隙退化模型,完成了考慮觸簧系統(tǒng)二元因素退化的電磁繼電器可靠壽命評(píng)估。首先,本文對(duì)研究對(duì)象進(jìn)行了額定工況下可靠壽命試驗(yàn),確定了某型繼電器具體不達(dá)標(biāo)性能指標(biāo)、分析了失效模式、失效機(jī)理,與此同時(shí)確定了觸簧系統(tǒng)的敏感... 

【文章來源】：哈爾濱工業(yè)大學(xué)黑龍江省 211工程院校 985工程院校

【文章頁數(shù)】：76 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

常溫下繼電器外殼各面中心點(diǎn)溫升圖

圖 3-1 超程、間隙光學(xué)測(cè)量裝置學(xué)傳感器為保證測(cè)量精度，還必須完善測(cè)量系統(tǒng)：第一，為方便將光點(diǎn)打在正確位置，且光頭與圍內(nèi)，光頭與受測(cè)繼電器相對(duì)位置應(yīng)當(dāng)三維可調(diào)現(xiàn)抖動(dòng)或滑動(dòng)現(xiàn)象，否則將影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確

圖 3-3 超程間隙實(shí)測(cè)波形由于本實(shí)驗(yàn)需采集數(shù)據(jù)量大、數(shù)據(jù)獲取不易，溫度實(shí)驗(yàn)還需或冷卻或升測(cè)量，同時(shí)溫度實(shí)驗(yàn)不宜停機(jī)時(shí)間過長(zhǎng)。綜合考慮以上不利因素，超程測(cè)量用示波器完成。如圖 3-3 所示，左圖為超程實(shí)測(cè)波形，綠色為簧片，青色為內(nèi)側(cè)觸點(diǎn)波形，黃色為外側(cè)觸點(diǎn)波形。使用數(shù)據(jù)游標(biāo)與外側(cè)觸

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
[1]繼電器觸簧系統(tǒng)高精度測(cè)量與調(diào)整技術(shù)研究[D]. 陳昊.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2017
[2]直流橋式繼電器電壽命模型及其應(yīng)用[D]. 李慶楠.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2017
[3]繼電器類單機(jī)加速貯存試驗(yàn)及可靠性評(píng)價(jià)研究[D]. 董寶旭.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2016
[4]過載繼電器溫度場(chǎng)的仿真研究[D]. 馬曉龍.河北工業(yè)大學(xué) 2014



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