<正>一、會議主題微電子技術是當代技術革命的先導與核心,微電子技術的發(fā)展,離不開微電子計量與測試技術的保障。一方面,微電子器件的高速發(fā)展及高端測試系統(tǒng)的廣泛應用,給微電子器件參數(shù)的計量與測試帶來了極大的挑戰(zhàn)。另一方面,微電子器件國產(chǎn)化是我國國家發(fā)展戰(zhàn)略,國家集成電路產(chǎn)業(yè)迅速發(fā)展,是我國高質(zhì)量發(fā)展的重要保障,也帶來了國產(chǎn)化器件參數(shù)的計量與測試新問題、新挑戰(zhàn)。 

【文章來源】：艦船電子工程. 2020,40(08)

【文章頁數(shù)】：1 頁

【文章目錄】：
一、會議主題
二、征文范圍（包括但不限于以下內(nèi)容）
三、投稿與出版
四、重要日期
五、組織機構
六、聯(lián)系方式



本文編號：3283659