2021年微電子計(jì)量測試技術(shù)交流會(huì)征文通知
發(fā)布時(shí)間:2021-07-14 06:59
<正>一、會(huì)議主題微電子技術(shù)是當(dāng)代技術(shù)革命的先導(dǎo)與核心,微電子技術(shù)的發(fā)展,離不開微電子計(jì)量與測試技術(shù)的保障。一方面,微電子器件的高速發(fā)展及高端測試系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用,給微電子器件參數(shù)的計(jì)量與測試帶來了極大的挑戰(zhàn)。另一方面,微電子器件國產(chǎn)化是我國國家發(fā)展戰(zhàn)略,國家集成電路產(chǎn)業(yè)迅速發(fā)展,是我國高質(zhì)量發(fā)展的重要保障,也帶來了國產(chǎn)化器件參數(shù)的計(jì)量與測試新問題、新挑戰(zhàn)。
【文章來源】:艦船電子工程. 2020,40(08)
【文章頁數(shù)】:1 頁
【文章目錄】:
一、會(huì)議主題
二、征文范圍(包括但不限于以下內(nèi)容)
三、投稿與出版
四、重要日期
五、組織機(jī)構(gòu)
六、聯(lián)系方式
本文編號(hào):3283659
【文章來源】:艦船電子工程. 2020,40(08)
【文章頁數(shù)】:1 頁
【文章目錄】:
一、會(huì)議主題
二、征文范圍(包括但不限于以下內(nèi)容)
三、投稿與出版
四、重要日期
五、組織機(jī)構(gòu)
六、聯(lián)系方式
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