某裝置電控模塊的加速壽命試驗及可靠性評估
發(fā)布時間:2017-12-05 17:08
本文關(guān)鍵詞:某裝置電控模塊的加速壽命試驗及可靠性評估
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【摘要】:艦艇中某裝置是一個大型復(fù)雜系統(tǒng),其可靠性要求非常高,任何關(guān)鍵有壽件的性能和可靠性都對其整個系統(tǒng)具有不可忽視的作用。電控模塊是某裝置的控制核心,也是關(guān)鍵有壽件之一,因此該電控模塊的可靠性直接關(guān)系到整個系統(tǒng)的可靠性,是裝置可靠性達(dá)到使用要求的必要條件。為評估電控模塊能否達(dá)到服役要求,需要對其可靠性和使用壽命進(jìn)行評估和驗證。本文利用電控模塊的現(xiàn)場使用數(shù)據(jù)和試驗數(shù)據(jù)對其可靠性和使用壽命進(jìn)行評估。本文的主要研究工作如下:(1)使用現(xiàn)場使用數(shù)據(jù)對電控模塊的失效率進(jìn)行評估。由于無失效數(shù)據(jù)分析是可靠性數(shù)據(jù)分析中的一個難點,現(xiàn)有方法都存在一定的局限性。本文采用貝葉斯方法對現(xiàn)場數(shù)據(jù)進(jìn)行評估,提出一種應(yīng)用于指數(shù)分布壽命評估時的參數(shù)選擇方法。在計算過程中,確定合適的參數(shù)值,進(jìn)而提高計算的準(zhǔn)確性。(2)在估算失效率之后。將開機(jī)次數(shù)用作成敗型試驗數(shù)據(jù),結(jié)合現(xiàn)場使用數(shù)據(jù)中的使用時間和開機(jī)次數(shù)估算電控模塊的可靠度置信下限。(3)為評估電控模塊能否滿足在海洋環(huán)境下服役要求,參考國軍標(biāo)等有關(guān)標(biāo)準(zhǔn),設(shè)計環(huán)境鑒定試驗方案并實施。主要包括霉菌試驗和鹽霧試驗,以鑒定電控模塊本身的抗霉菌和鹽霧腐蝕的能力。(4)鹽霧試驗具備加速壽命試驗的特征。本文基于加速壽命試驗的數(shù)據(jù)處理方法,利用鹽霧試驗得到的一些數(shù)據(jù),對電控模塊的服役年限進(jìn)行量化估算。在此基礎(chǔ)上,提出一種計算實驗室環(huán)境和自然使用環(huán)境折合的環(huán)境因子的方法。并利用對電控模塊的試驗前后性能測量數(shù)據(jù),參考其性能退化軌跡,對電控模塊的服役年限給出較為精確的估算。最后結(jié)合其現(xiàn)場使用壽命的計算結(jié)果,證明所提出的方法能夠很好的估算電控模塊的可靠性,電控模塊具有較高的可靠性,能夠滿足使用壽命要求。
【學(xué)位授予單位】:電子科技大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2014
【分類號】:U674.703
【參考文獻(xiàn)】
中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前2條
1 韓明;;失效率的E-Bayes估計和多層Bayes估計[J];高校應(yīng)用數(shù)學(xué)學(xué)報A輯;2008年04期
2 陸永亮;曹美霞;;中性鹽霧試驗影響因素探討[J];梅山科技;2012年01期
,本文編號:1255544
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