本文關(guān)鍵詞：低壓開關(guān)的機(jī)構(gòu)動態(tài)仿真分析與優(yōu)化　出處：《中國機(jī)械工程》2017年09期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：低壓開關(guān)的動態(tài)過程分析對于其優(yōu)化設(shè)計(jì)非常重要,機(jī)構(gòu)系統(tǒng)中碰撞接觸導(dǎo)致的彈跳會引起電弧燒蝕,直接影響開關(guān)的電氣壽命。采用虛擬樣機(jī)技術(shù)對開關(guān)的閉合過程進(jìn)行動態(tài)仿真,獲得機(jī)構(gòu)的動態(tài)過程及各接觸位置的接觸狀態(tài)變化,并通過與開關(guān)閉合過程的彈跳時間測試結(jié)果進(jìn)行對比,以及與電氣壽命試驗(yàn)后樣品的燒蝕位置進(jìn)行對比,證明了仿真模型的正確性。最后通過仿真模型的正交試驗(yàn)研究了相關(guān)設(shè)計(jì)參數(shù)對開關(guān)彈跳的影響,分析得到機(jī)構(gòu)的優(yōu)化方案并進(jìn)行了試驗(yàn),試驗(yàn)結(jié)果驗(yàn)證了所提出方案的有效性。
[Abstract]:The dynamic process of the low - voltage switch is very important for its optimization design , and the bounce caused by the collision contact in the mechanism system can cause the arc ablation , which directly affects the electrical life of the switch . By using the virtual prototype technology , the dynamic process of the switch and the contact state change of each contact position are obtained . The influence of the design parameters on the switch bounce is studied by the orthogonal test of the simulation model . Finally , the optimization scheme of the mechanism is analyzed and the test is carried out , and the test results validate the effectiveness of the proposed scheme .

【作者單位】： 上海交通大學(xué)機(jī)械與動力工程學(xué)院;西門子(中國)有限公司上海分公司;
【分類號】：TM564
【正文快照】： 0引言虛擬樣機(jī)技術(shù)已成為開發(fā)新型低壓電器的關(guān)鍵技術(shù)[1]。機(jī)構(gòu)動態(tài)仿真方法可以展現(xiàn)低壓開關(guān)的實(shí)際運(yùn)動過程以及測量部件的受力情況,解釋在不同設(shè)計(jì)參數(shù)下運(yùn)動狀態(tài)的改變情況,方便尋找結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計(jì)方向。目前低壓電器動態(tài)仿真的研究主要建立在接觸器、斷路器等電器產(chǎn)品上,此

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