專利地圖與TRIZ融合技術(shù)創(chuàng)新指標(biāo)體系構(gòu)建及影響因素分析
發(fā)布時(shí)間:2021-04-03 01:13
梳理專利地圖與TRIZ融合技術(shù)創(chuàng)新的流程,構(gòu)建其影響因素指標(biāo)體系。應(yīng)用粗糙集理論識(shí)別專利地圖與TRIZ融合技術(shù)創(chuàng)新的關(guān)鍵影響因素,并進(jìn)行實(shí)證研究。研究結(jié)果表明,粗糙集方法在定量分析處理模糊和不確定性知識(shí)方面具有優(yōu)越性;且在運(yùn)用專利地圖與TRIZ融合技術(shù)創(chuàng)新方法進(jìn)行技術(shù)創(chuàng)新時(shí),專利數(shù)據(jù)源準(zhǔn)確性、完整性,專利分析結(jié)果有效性和技術(shù)創(chuàng)新經(jīng)濟(jì)效益是影響企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新的關(guān)鍵因素,研究結(jié)果符合企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新實(shí)際情況。
【文章來(lái)源】:工業(yè)工程. 2020,23(05)北大核心
【文章頁(yè)數(shù)】:6 頁(yè)
本文編號(hào):3116320
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