發(fā)布時間：2020-06-20 02:58

【摘要】：在考慮基于組件的系統(tǒng)時,人們往往使用錯誤定位陣來產(chǎn)生一系列測試集以覆蓋所有感興趣的t-維交互并加以定位.但是在考慮某些對抗試驗時,由于僅需考慮相互對抗的兩個部分之間的交互作用,所以直接使用定位陣來定位交互錯誤將顯得很低效.為了節(jié)約試驗的成本和時間,我們將采用兩部圖定位陣來解決此類問題.在本文中,我們主要研究包含至多兩個錯誤的兩部圖定位陣的性質及其構造.首先給出了其陣列數(shù)的下界,并將下界作為最優(yōu)判別準則.同時建立了其與滿足“無三圈”和“無四圈”的兩部圖超單正交表的等價關系.然后給出了滿足預定性質的兩部圖超單正交表的兩種構作方法——加權遞歸構作和差矩陣直接構作;并研究了某一部分為兩個因子以及因子個數(shù)比強度大于1的兩種至多兩個錯誤的最優(yōu)兩部圖定位陣的存在性,且給出其無窮類.
【學位授予單位】：蘇州大學
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2018
【分類號】：C81

【參考文獻】

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1 ;Optimal locating arrays for at most two faults[J];Science China(Mathematics);2012年01期

本文編號：2721759