專利情報(bào)分析在企業(yè)核心技術(shù)的研發(fā)、保護(hù)與布局的過程中起著重要作用。本論述旨在分析關(guān)于微粒子遙感物探系統(tǒng)和方法的專利申報(bào)及技術(shù)發(fā)展情況,立足于相關(guān)技術(shù)現(xiàn)狀,從態(tài)勢發(fā)展、專利類型、申請人排名、申請人類別、專利轉(zhuǎn)讓排名、IPC技術(shù)構(gòu)成等方面分析了此領(lǐng)域知識(shí)產(chǎn)權(quán)情況,為遙感物探相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)研發(fā)與專利布局提供參考。

【文章頁數(shù)】：4 頁

【文章目錄】：
1 態(tài)勢分析
2 專利類型分析
3 申請人排名分析
4 申請人類別分析
5 專利轉(zhuǎn)讓排名分析
6 IPC技術(shù)構(gòu)成分析
7 重點(diǎn)申請人分析
    7.1 中國科學(xué)院遙感與數(shù)字地球研究所
    7.2 武漢大學(xué)
    7.3 神華地質(zhì)勘查有限責(zé)任公司
8 小結(jié)



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