高分子薄膜表征技術
本文關鍵詞:高分子薄膜表征技術
【摘要】:隨著納米技術在微電子、生物醫(yī)藥、能源等領域的快速發(fā)展,如何在納米尺度構筑性能穩(wěn)定、性質均一的多功能納米器件已成為納米科技領域最具有挑戰(zhàn)性的前沿技術之一.具有廣泛應用前景的高分子薄膜的制備、性質以及應用研究一直以來都受到學術界與工業(yè)界的高度關注對高分子薄膜的內部結構、表面形貌、機械性能、電化學性能等的檢測一直是高分子領域的主要研究熱點之一.本文綜述了高分子薄膜的測試方法,包括原子力顯微鏡、電子顯微鏡、X光散射、中子散射、橢圓偏振光等表征技術.
【作者單位】: 蘇州大學軟凝聚態(tài)物理及交叉研究中心;蘇州大學物理與光電能源學部;
【關鍵詞】: 高分子薄膜 納米 表征技術
【基金】:國家自然科學基金(批準號:21274103,21204059) 2013年江蘇省“創(chuàng)新團隊計劃”資助的課題~~
【分類號】:TB383.2;TQ317
【正文快照】: 1引言 高分子薄膜一般是指以高分子聚合物為原材料,通過澆筑、拉伸、浸漬、旋涂或者沉積等手段制備獲得的薄膜材料,可廣泛應用于水處理、電子顯示(有機發(fā)光器件)、分離提純、表面涂層、黏結劑、微電子保護封裝、機械潤滑等領域. 為了提高器件的性能及使用效率,功能材料通常
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,本文編號:967674
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