鑲嵌有納米硅的SiN_x薄膜光致發(fā)光的溫度依賴特性研究
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【摘要】:采用對靶磁控濺射法在單晶硅襯底上沉積鑲嵌有納米硅的氮化硅薄膜,然后在形成氣體FG(10%H2,90%N2)氣氛中進行450℃常規(guī)熱退火50min。通過熒光光譜儀測得的穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)光致發(fā)光(PL)譜研究了鑲嵌有納米硅的氮化硅(SiNx)薄膜樣品光致發(fā)光特性。結(jié)果表明,樣品的發(fā)光過程可以歸因于納米硅的量子限制效應(yīng)發(fā)光和與缺陷相關(guān)的發(fā)光。隨著激發(fā)光能量的增加,PL譜峰位發(fā)生藍移,表明較小粒度的納米硅發(fā)光比例增加;溫度的降低會抑制非輻射復合過程,提高輻射復合幾率,因此發(fā)光壽命延長,發(fā)光強度呈指數(shù)增加;隨著探測波長的減小,樣品的發(fā)光壽命則明顯縮短,表明納米硅的量子限制效應(yīng)發(fā)光對溫度有很強的依賴性。
【作者單位】: 河北大學物理科學與技術(shù)學院河北省光電信息材料重點實驗室;
【關(guān)鍵詞】: 納米硅/氮化硅 光致發(fā)光 溫度依賴特性
【基金】:國家自然科學基金項目(60878040) 河北省自然科學基金項目(F2013201250) 河北省科技廳項目(12963930D)資助
【分類號】:TB383.2
【正文快照】: 引言近年來,低維硅基納米材料在光電集成電路中的潛在應(yīng)用吸引了人們對其光學特性的廣泛研究[1-2]。在低維結(jié)構(gòu)中,輻射復合來自于光生電子-空穴對的相互作用,人們致力于制備表面鈍化良好的密集Si納米結(jié)構(gòu),來實現(xiàn)高效發(fā)光[3-4]。大量實驗研究表明,在鑲嵌有納米硅的氧化硅(SiOx)
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,本文編號:911894
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