大面積可控單原子層h-BN薄膜的p、n型導(dǎo)電摻雜研究
發(fā)布時(shí)間:2023-10-28 19:39
石墨烯材料的發(fā)現(xiàn)使二維材料研究成為材料研究領(lǐng)域的前沿課題。目前發(fā)現(xiàn)的二維材料種類已達(dá)上百種之多正如石墨烯一樣,大尺寸高質(zhì)量的其他二維材料不僅對(duì)于探索二維條件下新的物理現(xiàn)象和性能很重要,而且在光電子領(lǐng)域也具有巨大的應(yīng)用前景。近年來,除石墨烯外,二維六方氮化硼、過渡族金屬硫化物、硅烯、鍺烯、黑磷等二維材料也被制備出來,極大地拓展了二維材料的性能和應(yīng)用。氮化硼作為三,五族化合物,具有極好的化學(xué)穩(wěn)定性,優(yōu)異的物理性能,原子級(jí)光滑表面,高熱導(dǎo)率和寬帶隙等性質(zhì)。氮化硼具有和石墨烯極其相似的結(jié)構(gòu),所以又有“白石墨烯”之稱,成為備受人們研究關(guān)注的二維材料之一。但由于氮化硼能帶帶隙很寬,面積制備有限,深紫外LED應(yīng)用技術(shù)不成熟等問題的存在限制了氮化硼的進(jìn)一步發(fā)展。制備大面積高質(zhì)量的氮化硼,調(diào)節(jié)其能帶帶隙實(shí)現(xiàn)p、n型導(dǎo)電摻雜,促進(jìn)深紫外LED方面的應(yīng)用成為我們主要的研究工作。本文針對(duì)以上問題,通過LPCVD生長(zhǎng)技術(shù)制備了大面積,高質(zhì)量的氮化硼薄膜,采用基于密度泛函理論的第一性原理計(jì)算方法分析了原子的空位和摻雜氮化硼薄膜pn型電學(xué)性質(zhì)的影響,實(shí)驗(yàn)上實(shí)現(xiàn)了高效的p型氮化硼薄膜,進(jìn)一步促進(jìn)了其在深紫外LED應(yīng)用...
【文章頁(yè)數(shù)】:125 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
Abstract
第一章 緒論
1.1 引言
1.2 新型二維材料的發(fā)展
1.3 氮化硼的特性及應(yīng)用
1.4 研究進(jìn)展與面臨的困難
1.5 論文框架
第二章 研究方法與表征技術(shù)
2.1 研究方法
2.1.1 低壓化學(xué)氣相沉積(LPCVD)
2.1.2 第一性原理計(jì)算方法
2.1.3 金屬有機(jī)化學(xué)氣相外延(MOCVD)
2.2 表征技術(shù)
2.2.1 掃描電子顯微鏡(SEM)[75]
2.2.2 光學(xué)顯微鏡(OM)
2.2.3 透射電子顯微鏡(FIB/TEM)
2.2.4 X射線光電子能譜分析(XPS)
2.2.5 原子力顯微鏡(AFM)[79]
2.2.6 四探針電學(xué)性能測(cè)試
2.2.7 俄歇電子能譜儀(AES)
2.2.8 拉曼光譜(Raman)
2.2.9 霍爾測(cè)量(Hall)
2.2.10 單探針點(diǎn)接觸法[82]
第三章 大面積可控單層h-BN薄膜的生長(zhǎng)
3.1 引言
3.2 銅箔襯底的單層h-BN生長(zhǎng)
3.2.1 銅箔的拋光方法
3.2.2 h-BN在銅襯底上的成核機(jī)制
3.2.3 生長(zhǎng)參數(shù)的優(yōu)化與單層h-BN的實(shí)現(xiàn)
3.3 同軸卷曲襯底合成超大面積的h-BN薄膜
3.3.1 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)與方法
3.3.2 同軸圈卷銅箔襯底和叉狀支撐方法
3.3.3 大面積h-BN薄膜的轉(zhuǎn)移技術(shù)
3.4 h-BN薄膜的表征及應(yīng)用
3.4.1 h-BN薄膜的表征
3.4.2 h-BN預(yù)導(dǎo)向生長(zhǎng)整齊陣列的ZnO納米柱
3.4.3 h-BN緩沖層外延生長(zhǎng)GaN厚膜技術(shù)
3.5 小結(jié)
第四章 h-BN薄膜的p、n型導(dǎo)電摻雜的理論研究
4.1 引言
4.2 本征六方氮化硼電子結(jié)構(gòu)及特性
4.2.1 計(jì)算方法與模型的建立
4.2.2 單層h-BN的電子結(jié)構(gòu)
4.2.3 空位缺陷對(duì)h-BN結(jié)構(gòu)性質(zhì)的影響
4.3 六方氮化硼p型摻雜設(shè)計(jì)與激活機(jī)理
4.3.1 模型的建立與雜質(zhì)原子的選取
4.3.2 微觀幾何結(jié)構(gòu)和雜質(zhì)結(jié)合能
4.3.3 單原子層h-BN的p型摻雜電子結(jié)構(gòu)分析
4.4 六方氮化硼n型摻雜設(shè)計(jì)與激活機(jī)理
4.4.1 模型的建立與雜質(zhì)原子的選取
4.4.2 微觀幾何結(jié)構(gòu)和雜質(zhì)結(jié)合能
4.4.3 六方氮化硼的n型摻雜電子結(jié)構(gòu)分析
4.5 小結(jié)
第五章 h-BN薄膜的p、n型導(dǎo)電摻雜技術(shù)研究及應(yīng)用
5.1 引言
5.2 六方氮化硼的p型摻雜技術(shù)
5.2.1 雜質(zhì)源前驅(qū)物材料的選擇
5.2.2 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)與可能的反應(yīng)路徑
5.2.3 Mg摻雜h-BN薄膜的LPCVD技術(shù)
5.3 p型h-BN的表征與應(yīng)用
5.3.1 p型h-BN的結(jié)構(gòu)性質(zhì)的表征
5.3.2 p型h-BN的電學(xué)性質(zhì)的表征
5.3.3 p型h-BN的應(yīng)用
5.4 六方氮化硼的n型摻雜技術(shù)
5.4.1 六方氮化硼n型摻雜的方法設(shè)計(jì)
5.4.2 h-BN薄膜的脈沖c摻雜技術(shù)
5.4.3 n型摻雜h-BN薄膜的表征分析
5.5 小結(jié)
第六章 總結(jié)與展望
參考文獻(xiàn)
附錄 碩士期間發(fā)表的文章
致謝
本文編號(hào):3857649
【文章頁(yè)數(shù)】:125 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
Abstract
第一章 緒論
1.1 引言
1.2 新型二維材料的發(fā)展
1.3 氮化硼的特性及應(yīng)用
1.4 研究進(jìn)展與面臨的困難
1.5 論文框架
第二章 研究方法與表征技術(shù)
2.1 研究方法
2.1.1 低壓化學(xué)氣相沉積(LPCVD)
2.1.2 第一性原理計(jì)算方法
2.1.3 金屬有機(jī)化學(xué)氣相外延(MOCVD)
2.2 表征技術(shù)
2.2.1 掃描電子顯微鏡(SEM)[75]
2.2.2 光學(xué)顯微鏡(OM)
2.2.3 透射電子顯微鏡(FIB/TEM)
2.2.4 X射線光電子能譜分析(XPS)
2.2.5 原子力顯微鏡(AFM)[79]
2.2.6 四探針電學(xué)性能測(cè)試
2.2.7 俄歇電子能譜儀(AES)
2.2.8 拉曼光譜(Raman)
2.2.9 霍爾測(cè)量(Hall)
2.2.10 單探針點(diǎn)接觸法[82]
第三章 大面積可控單層h-BN薄膜的生長(zhǎng)
3.1 引言
3.2 銅箔襯底的單層h-BN生長(zhǎng)
3.2.1 銅箔的拋光方法
3.2.2 h-BN在銅襯底上的成核機(jī)制
3.2.3 生長(zhǎng)參數(shù)的優(yōu)化與單層h-BN的實(shí)現(xiàn)
3.3 同軸卷曲襯底合成超大面積的h-BN薄膜
3.3.1 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)與方法
3.3.2 同軸圈卷銅箔襯底和叉狀支撐方法
3.3.3 大面積h-BN薄膜的轉(zhuǎn)移技術(shù)
3.4 h-BN薄膜的表征及應(yīng)用
3.4.1 h-BN薄膜的表征
3.4.2 h-BN預(yù)導(dǎo)向生長(zhǎng)整齊陣列的ZnO納米柱
3.4.3 h-BN緩沖層外延生長(zhǎng)GaN厚膜技術(shù)
3.5 小結(jié)
第四章 h-BN薄膜的p、n型導(dǎo)電摻雜的理論研究
4.1 引言
4.2 本征六方氮化硼電子結(jié)構(gòu)及特性
4.2.1 計(jì)算方法與模型的建立
4.2.2 單層h-BN的電子結(jié)構(gòu)
4.2.3 空位缺陷對(duì)h-BN結(jié)構(gòu)性質(zhì)的影響
4.3 六方氮化硼p型摻雜設(shè)計(jì)與激活機(jī)理
4.3.1 模型的建立與雜質(zhì)原子的選取
4.3.2 微觀幾何結(jié)構(gòu)和雜質(zhì)結(jié)合能
4.3.3 單原子層h-BN的p型摻雜電子結(jié)構(gòu)分析
4.4 六方氮化硼n型摻雜設(shè)計(jì)與激活機(jī)理
4.4.1 模型的建立與雜質(zhì)原子的選取
4.4.2 微觀幾何結(jié)構(gòu)和雜質(zhì)結(jié)合能
4.4.3 六方氮化硼的n型摻雜電子結(jié)構(gòu)分析
4.5 小結(jié)
第五章 h-BN薄膜的p、n型導(dǎo)電摻雜技術(shù)研究及應(yīng)用
5.1 引言
5.2 六方氮化硼的p型摻雜技術(shù)
5.2.1 雜質(zhì)源前驅(qū)物材料的選擇
5.2.2 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)與可能的反應(yīng)路徑
5.2.3 Mg摻雜h-BN薄膜的LPCVD技術(shù)
5.3 p型h-BN的表征與應(yīng)用
5.3.1 p型h-BN的結(jié)構(gòu)性質(zhì)的表征
5.3.2 p型h-BN的電學(xué)性質(zhì)的表征
5.3.3 p型h-BN的應(yīng)用
5.4 六方氮化硼的n型摻雜技術(shù)
5.4.1 六方氮化硼n型摻雜的方法設(shè)計(jì)
5.4.2 h-BN薄膜的脈沖c摻雜技術(shù)
5.4.3 n型摻雜h-BN薄膜的表征分析
5.5 小結(jié)
第六章 總結(jié)與展望
參考文獻(xiàn)
附錄 碩士期間發(fā)表的文章
致謝
本文編號(hào):3857649
本文鏈接:http://sikaile.net/guanlilunwen/gongchengguanli/3857649.html
最近更新
教材專著