壓電層體積分?jǐn)?shù)對BTO基復(fù)合薄膜磁電性能的影響
發(fā)布時間:2023-02-22 20:00
基于力學(xué)參數(shù)模型研究了NFO/BTO層狀復(fù)合薄膜的磁電效應(yīng),發(fā)現(xiàn)當(dāng)壓電相的體積分?jǐn)?shù)約為0. 47時,磁電耦合性能最好。通過脈沖激光沉積法在摻0. 7%Nb的(001)-STO襯底上生長了不同體積分?jǐn)?shù)比的2-2型NFO/BCZT異質(zhì)結(jié)構(gòu)的磁電復(fù)合薄膜。XRD結(jié)果表明:NFO/BCZT磁電復(fù)合薄膜均為(00l)擇優(yōu)取向生長結(jié)構(gòu)。通過鎖相技術(shù)測試了NFO/BCZT復(fù)合薄膜的磁電耦合系數(shù),測試結(jié)果表明壓電相體積稍大于鐵磁層體積時,磁電性能最佳。實(shí)驗(yàn)結(jié)果與理論結(jié)果存在一定差異,主要是由于材料實(shí)際參數(shù)與計算所用參數(shù)有差異、界面的非理想耦合無法得到準(zhǔn)確的k值以及復(fù)合薄膜微觀結(jié)構(gòu)、應(yīng)力等影響。
【文章頁數(shù)】:6 頁
【文章目錄】:
0 引言
1 理論計算及分析
1.1 理論模型
1.2 計算結(jié)果及分析
2 實(shí)驗(yàn)過程及結(jié)果分析
2.1 實(shí)驗(yàn)過程
2.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析
3 結(jié)論
本文編號:3748204
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0 引言
1 理論計算及分析
1.1 理論模型
1.2 計算結(jié)果及分析
2 實(shí)驗(yàn)過程及結(jié)果分析
2.1 實(shí)驗(yàn)過程
2.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析
3 結(jié)論
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