在Cd基底上制備紅熒烯自組裝和單斜相薄膜
發(fā)布時間:2021-11-06 05:13
目前,納米材料的研究正在全面的展開,這引起了社會各界的高度關(guān)注。納米材料和納米器件對電子器件行業(yè)有著極強的應(yīng)用。目前的有機材料是納米材料中較熱門的話題。有機材料比傳統(tǒng)材料有很多的優(yōu)勢,比如能耗更低、傳輸速度更快、體積更小等。但是有機材料在當(dāng)下還有很多問題有待解決,比如使用壽命、制作工藝等。我們實驗室主要是研究有機薄膜的生長機制和薄膜的表面性質(zhì)。而且當(dāng)前Rubrene在有機發(fā)光二極管、有機場效應(yīng)晶體管及有機太陽能電池等方面有著極大的應(yīng)用,F(xiàn)在的薄膜生長的控制在工業(yè)上有著舉足輕重的地位,且其條件的探究也一直是實驗室工作的重點。但長出優(yōu)良的薄膜也要有較好的儀器來測量,我們實驗室使用的是低溫掃描隧道顯微鏡(Scanning tunneling microscopy,STM),掃描隧道顯微鏡不僅能夠提供實空間下的原子量級的分辨圖,而且還可以得到局域電子態(tài)密度。掃描隧道顯微鏡在觀測半導(dǎo)體襯底上生長的薄膜的形貌和一些金屬的形貌效果較好,目前很多小組都在Ag、Cu、Pb、Bi、石墨等襯底上進行樣品的生長和觀測。我們實驗室也曾經(jīng)Bi、Cd等襯底上生長了并五苯、酞箐銅(CuPc)、酞箐鈷(CoPc)等有機...
【文章來源】:西南大學(xué)重慶市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:55 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
Unisoku的UHV-LT-STM系統(tǒng)
這個粒子越過壁壘到達外面的此粒子,所以當(dāng)粒子越過勢壘就會產(chǎn)生了隧的偏壓比較小時,隧道電流大小可以表示為12A SbI V e Vb是加在針尖和樣品之間的偏置電壓,S 是真空中的大小約等于 1?梢钥闯鰳悠放c針化都是一個量級以上,這樣的特性使得對樣這是針尖和樣品表面電子流動的示意圖。當(dāng)向樣品。當(dāng)處于負偏壓時,電子由樣品的滿,在負偏壓下掃描得到的形貌圖更接近樣品要求要高一些。
圖 2.3 STM 基本結(jié)構(gòu)示意圖圖 2.4 單管壓電陶瓷掃描器中,由于我們需要把針尖靠近樣品到 2 左右,所以一般我們先動調(diào)節(jié)至較近位置,再使用 STM 通過電子系統(tǒng)對針尖進行高精度陶瓷來改變垂直距離,直到達到針尖與樣品能夠發(fā)生隧穿效應(yīng)的目的是為了保護針尖,手動進針很容易出現(xiàn)實撞,所以我們要
【參考文獻】:
期刊論文
[1]讓納米科技插上基礎(chǔ)和應(yīng)用的雙翼展翅翱翔[J]. 楊延蓮,劉鳴華. 科學(xué)通報. 2018(35)
[2]納米器件[J]. 褚衛(wèi)國. 現(xiàn)代物理知識. 2018(05)
[3]納米科技的發(fā)展與應(yīng)用[J]. 何燕,高月,封文江. 沈陽師范大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版). 2010(02)
[4]自組裝與納米技術(shù)[J]. 鄭明波,曹潔明,唐璐,常欣,鄧少高,馬賢佳,還大軍,陶杰,徐國躍. 微納電子技術(shù). 2003(Z1)
[5]納米科技及其發(fā)展前景[J]. 白春禮. 華北工學(xué)院學(xué)報(社科版). 2001(S1)
[6]真空科學(xué)與技術(shù)簡介[J]. 王欲知. 學(xué)術(shù)動態(tài). 2001(04)
[7]納米科學(xué)技術(shù)與納米材料概述[J]. 王翠. 延邊大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版). 2001(01)
[8]掃描探針顯微鏡(SPM)在精密尺寸計量中的應(yīng)用[J]. 胡小唐,莊在龍,張國雄. 儀器儀表學(xué)報. 1996(S1)
[9]掃描探針顯微鏡[J]. 白春禮,商廣義. 現(xiàn)代科學(xué)儀器. 1994(04)
[10]金屬和半導(dǎo)體表面的STM研究[J]. 白春禮. 物理. 1993(08)
本文編號:3479235
【文章來源】:西南大學(xué)重慶市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:55 頁
【學(xué)位級別】:碩士
【部分圖文】:
Unisoku的UHV-LT-STM系統(tǒng)
這個粒子越過壁壘到達外面的此粒子,所以當(dāng)粒子越過勢壘就會產(chǎn)生了隧的偏壓比較小時,隧道電流大小可以表示為12A SbI V e Vb是加在針尖和樣品之間的偏置電壓,S 是真空中的大小約等于 1?梢钥闯鰳悠放c針化都是一個量級以上,這樣的特性使得對樣這是針尖和樣品表面電子流動的示意圖。當(dāng)向樣品。當(dāng)處于負偏壓時,電子由樣品的滿,在負偏壓下掃描得到的形貌圖更接近樣品要求要高一些。
圖 2.3 STM 基本結(jié)構(gòu)示意圖圖 2.4 單管壓電陶瓷掃描器中,由于我們需要把針尖靠近樣品到 2 左右,所以一般我們先動調(diào)節(jié)至較近位置,再使用 STM 通過電子系統(tǒng)對針尖進行高精度陶瓷來改變垂直距離,直到達到針尖與樣品能夠發(fā)生隧穿效應(yīng)的目的是為了保護針尖,手動進針很容易出現(xiàn)實撞,所以我們要
【參考文獻】:
期刊論文
[1]讓納米科技插上基礎(chǔ)和應(yīng)用的雙翼展翅翱翔[J]. 楊延蓮,劉鳴華. 科學(xué)通報. 2018(35)
[2]納米器件[J]. 褚衛(wèi)國. 現(xiàn)代物理知識. 2018(05)
[3]納米科技的發(fā)展與應(yīng)用[J]. 何燕,高月,封文江. 沈陽師范大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版). 2010(02)
[4]自組裝與納米技術(shù)[J]. 鄭明波,曹潔明,唐璐,常欣,鄧少高,馬賢佳,還大軍,陶杰,徐國躍. 微納電子技術(shù). 2003(Z1)
[5]納米科技及其發(fā)展前景[J]. 白春禮. 華北工學(xué)院學(xué)報(社科版). 2001(S1)
[6]真空科學(xué)與技術(shù)簡介[J]. 王欲知. 學(xué)術(shù)動態(tài). 2001(04)
[7]納米科學(xué)技術(shù)與納米材料概述[J]. 王翠. 延邊大學(xué)學(xué)報(自然科學(xué)版). 2001(01)
[8]掃描探針顯微鏡(SPM)在精密尺寸計量中的應(yīng)用[J]. 胡小唐,莊在龍,張國雄. 儀器儀表學(xué)報. 1996(S1)
[9]掃描探針顯微鏡[J]. 白春禮,商廣義. 現(xiàn)代科學(xué)儀器. 1994(04)
[10]金屬和半導(dǎo)體表面的STM研究[J]. 白春禮. 物理. 1993(08)
本文編號:3479235
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