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原子力顯微鏡研究高分子超薄膜結(jié)晶機(jī)理及功能化調(diào)控

發(fā)布時間:2021-08-19 23:36
  近十年來,隨著功能高分子單晶(含單層或寡層片晶)工程及應(yīng)用研究的不斷深入,除了納米尺度結(jié)晶形貌的表征以外,多功能原子力顯微鏡還被用于研究分子結(jié)構(gòu)、結(jié)晶條件和后處理條件對功能高分子晶體性能(電、熱、光、磁等)的影響,進(jìn)一步還可采用掃描探針加工技術(shù)(機(jī)械刻蝕、電致刻蝕和熱致刻蝕等)對其性能進(jìn)行調(diào)控以構(gòu)筑功能化聚集態(tài)結(jié)構(gòu)和微圖案.另一方面,超薄膜中單層或寡層片晶可為研究高分子結(jié)晶提供合適的模型體系,與原子力顯微鏡相結(jié)合,不但可以原位、實空間、高分辨地研究高分子的成核與生長過程(生長形態(tài)演變和生長動力學(xué)),還可以用于研究亞穩(wěn)態(tài)折疊鏈片晶厚度和形態(tài)隨熱處理溫度與時間的演化,從而加深對片晶內(nèi)有序差異、片晶增厚與熔融行為和自誘導(dǎo)成核的認(rèn)識. 

【文章來源】:高分子學(xué)報. 2020,51(03)北大核心SCICSCD

【文章頁數(shù)】:18 頁


本文編號:3352354

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