數(shù)據(jù)挖掘在松散層沉降中的應(yīng)用研究
【學(xué)位授予單位】:西安科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號(hào)】:TP311.13;P642.26
【圖文】:
西安科技大學(xué)碩士學(xué)位論文2 相關(guān)理論概述測(cè)原理厚松散層的變形沉降狀況,使用光,監(jiān)測(cè)過(guò)程是從力到光學(xué)的映射過(guò)的載體實(shí)現(xiàn)大尺度巖體微小形變的點(diǎn)是對(duì)波長(zhǎng)比較敏感,即使監(jiān)測(cè)物柵內(nèi)部的結(jié)構(gòu)改變,從而引起光柵長(zhǎng)的漂移量來(lái)間接的反映外界環(huán)境用最多的一種傳感器。圖 2.1 為光
西安科技大學(xué)碩士學(xué)位論文為松散層存在持續(xù)、微小變形特征,因此,在連續(xù)時(shí)間內(nèi)采集得到的波長(zhǎng)數(shù)據(jù),所以此處沒(méi)有采用 進(jìn)行處理。)算法流程圖文提出的光柵傳感器波長(zhǎng)數(shù)據(jù)異常檢測(cè)算法,首先需要獲取傳感器的中心波長(zhǎng)參數(shù),提前構(gòu)建好異常檢測(cè)函數(shù)。然后開(kāi)始讀取傳感器監(jiān)測(cè)的波長(zhǎng)數(shù)據(jù),通過(guò)函數(shù)檢測(cè)當(dāng)前數(shù)據(jù)是否異常,若無(wú)異常則繼續(xù)下一條數(shù)據(jù)檢測(cè);若當(dāng)前數(shù)據(jù)異對(duì)異常數(shù)據(jù)的類型進(jìn)行判斷,確認(rèn)異常類型包含的異常數(shù)據(jù)個(gè)數(shù),并采用對(duì)應(yīng)式進(jìn)行修正。修正完畢后,判斷波長(zhǎng)數(shù)據(jù)是否檢測(cè)完畢。若數(shù)據(jù)檢測(cè)完畢,則;否則繼續(xù)對(duì)下一條數(shù)據(jù)進(jìn)行異常檢測(cè)、判斷。算法流程圖如圖 3.1 所示。
11 1528.872 1528.848 24 正常表 3.2 包含異常序列的波長(zhǎng)數(shù)據(jù)的修正表序號(hào) 修正后波長(zhǎng)(fbg0101/nm) 中心波長(zhǎng)(fbg0101/nm) 修正后漂移量絕對(duì)值(pm)11528.871 1528.8482321528.871 1528.8482331552.7435 1552.843510041552.9435 1552.843510051552.9435 1552.843510061552.9435 1552.843510071552.9435 1552.843510081552.9435 1552.843510091552.9435 1552.843510010 1528.8721528.8482411 1528.8721528.84824
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2805099
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