本文關(guān)鍵詞：硬件產(chǎn)品工藝設(shè)計(jì)缺陷形成機(jī)理及其控制研究

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【摘要】：硬件產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷形成于產(chǎn)品設(shè)計(jì)周期全過(guò)程,設(shè)計(jì)過(guò)程的任一階段處理不當(dāng)都可能對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量產(chǎn)生不同程度的影響,從而導(dǎo)致設(shè)計(jì)缺陷的產(chǎn)生。設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)過(guò)程的工藝設(shè)計(jì)階段是連接設(shè)計(jì)與制造的關(guān)鍵階段,工藝設(shè)計(jì)不合理可能導(dǎo)致產(chǎn)品出現(xiàn)工藝設(shè)計(jì)缺陷,從而產(chǎn)生制造缺陷。本文從過(guò)程管理的角度,從定性和定量?jī)蓚�(gè)方面對(duì)硬件產(chǎn)品工藝設(shè)計(jì)缺陷與缺陷因素之間的關(guān)系進(jìn)行系統(tǒng)分析,進(jìn)而提出產(chǎn)品工藝設(shè)計(jì)缺陷的控制策略。論文首先定義了硬件產(chǎn)品工藝設(shè)計(jì)缺陷,對(duì)硬件產(chǎn)品工藝設(shè)計(jì)過(guò)程中的主要設(shè)計(jì)活動(dòng)及其內(nèi)容進(jìn)行分析和概括;分析了工藝設(shè)計(jì)缺陷的形成機(jī)理。其次,將主要工藝設(shè)計(jì)活動(dòng)進(jìn)一步分解成基本子活動(dòng),應(yīng)用過(guò)程六要素方法,對(duì)各活動(dòng)的缺陷因素進(jìn)行了分析,建立了各工藝設(shè)計(jì)活動(dòng)缺陷因素的結(jié)構(gòu)關(guān)系模型。然后,結(jié)合工藝設(shè)計(jì)過(guò)程六要素方法,將FMEA應(yīng)用于缺陷風(fēng)險(xiǎn)的識(shí)別,給出了工藝設(shè)計(jì)缺陷活動(dòng)的嚴(yán)重度S(Severity)、頻度O(Occurrence)、探測(cè)度D(Detection)的評(píng)分等級(jí),在考慮工藝設(shè)計(jì)缺陷活動(dòng)之間可能存在的互相影響的關(guān)聯(lián)性基礎(chǔ)上,提出了利用DEMATEL法對(duì)工藝缺陷活動(dòng)的因素影響大小進(jìn)行定量化分析方法。此外,從工藝設(shè)計(jì)過(guò)程層次建立了硬件產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷控制體系結(jié)構(gòu),并對(duì)工藝設(shè)計(jì)控制活動(dòng)關(guān)系和內(nèi)容進(jìn)行分析,結(jié)合過(guò)程六要素思想給出了硬件產(chǎn)品工藝設(shè)計(jì)缺陷控制措施。最后,以某型號(hào)飛機(jī)發(fā)動(dòng)機(jī)裝配工藝設(shè)計(jì)為例,驗(yàn)證以上方法的可行性和科學(xué)性。論文從設(shè)計(jì)過(guò)程角度對(duì)硬件產(chǎn)品工藝設(shè)計(jì)階段缺陷因素的結(jié)構(gòu)模型進(jìn)行了分析研究,基于FMEA技術(shù)和DEMATEL方法實(shí)現(xiàn)了工藝設(shè)計(jì)活動(dòng)與缺陷因素的定性和定量研究和工藝設(shè)計(jì)缺陷評(píng)估,確定工藝設(shè)計(jì)缺陷關(guān)鍵缺陷活動(dòng)和影響因素,為工藝設(shè)計(jì)缺陷的預(yù)防和控制提供依據(jù)。
【學(xué)位授予單位】：南昌大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類(lèi)號(hào)】：TB472

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1144068