本文選題：體層攝影術(shù) + 偽影��； 參考：《臨床放射學雜志》2015年05期

【摘要】：目的探討Flash雙能量CT單能譜成像技術(shù)去除顱內(nèi)金屬偽影用于顱內(nèi)動脈瘤術(shù)后的臨床應用價值。方法對40例顱內(nèi)動脈瘤術(shù)后復查的患者使用Flash雙源CT雙能量掃描,并以10 ke V為間隔重組16組單能量圖像。通過比較混合組和各ke V組圖像的客觀指標偽影指數(shù)(AI)、對比噪聲比(CNR)以及主觀圖像質(zhì)量評分(4分法),尋找單能譜去金屬偽影最佳的ke V。結(jié)果 AI在120 ke V時達最小,CNR在90 ke V時最大,120 ke V之后的單能譜圖像的主觀評分之間無明顯差異。利用單能譜軟件獲得最佳單能量成像條件為90~120 ke V,其圖像均能滿足診斷。結(jié)論雙能量單能譜成像技術(shù)能夠有效去除金屬偽影,清晰顯示顱內(nèi)動脈瘤術(shù)后的細微結(jié)構(gòu)。
[Abstract]:Objective to evaluate the clinical value of Flash dual energy CT single energy spectrum imaging in removing intracranial metal artifacts after intracranial aneurysm surgery.Methods 40 patients with intracranial aneurysms were examined with Flash dual source CT dual energy scan and recombined with 10 Kev interval in 16 groups of single energy images.By comparing the objective index artifact index of mixed group with that of each keV group, comparing the noise ratio (CNR) and subjective image quality score (4 points method), we found the best single energy spectrum de-metal artifact (ke V).Results there was no significant difference between the subjective scores of single energy spectrum images with AI at 120 Kev and minimum CNR at 90 Kev after the maximum of 120 Kev.The optimal single energy imaging condition is 90 ~ 120ke V by using single energy spectrum software, which can satisfy the diagnosis.Conclusion Dual-energy single energy spectrum imaging can effectively remove metal artifacts and clearly show the fine structure of intracranial aneurysms after operation.
【作者單位】： 黃石市中心醫(yī)院(
【分類號】：R743;R816.1

【參考文獻】

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【共引文獻】

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本文編號：1755920