目的:房性心動過速（Atrial tachycardia,AT）形成的內(nèi)在原因與心房結(jié)構(gòu)重構(gòu)和電重構(gòu)有這密切的聯(lián)系。而發(fā)生該類型重構(gòu)的主要原因是心肌纖維化（Myocardial fibrosis,MF）、心臟外科手術(shù)、導(dǎo)管射頻消融損傷等因素,可引起心房片狀低電壓或疤痕,從而形成低電壓區(qū)（low voltage area,LVZ）,通過基質(zhì)標測了解心房雙極電壓的實際情況判斷這種致心律失�；|(zhì)的病變程度及實際位置,根據(jù)標測結(jié)果制定實際、個體化的基質(zhì)改良策略。本臨床研究的目的是對通過NavX高密度標測技術(shù),通過對心房基質(zhì)標測了解心房電壓的實際情況,探索在竇性心律下三維基質(zhì)標測指導(dǎo)低電壓區(qū)的改良治療疤痕相關(guān)性房速的可行性和安全性。方法:連續(xù)入選在安徽省立醫(yī)院心內(nèi)科接受房顫或房速射頻消融手術(shù)后再發(fā)房速的77例患者,所有患者術(shù)中均需轉(zhuǎn)復(fù)竇性心律并行基質(zhì)標測,記錄心房電壓解剖圖,測量低電壓區(qū)及疤痕區(qū),并計算低電壓區(qū)占心房總面積比例,排除所有低電壓區(qū)面積比例小于10%的患者。將所有入選患者根據(jù)簡單隨機化的方法分入兩組,所有患者術(shù)中均需驗證肺靜脈電位是否恢復(fù),確保隔離線完整,觀察組采用激動標測指導(dǎo)消融;... 

【文章來源】：安徽醫(yī)科大學安徽省

【文章頁數(shù)】：48 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

設(shè)計流程

刺左側(cè)股靜脈 2 次并送入長導(dǎo)絲，沿導(dǎo)絲送入兩根 SWARTZ 長鞘，用房間隔穿刺針穿刺房間隔 2 次并送鞘進入左房，沿鞘分別用 RAO/LAO 體位進行雙側(cè)肺靜脈造影核實肺靜脈開口位置，用 lasso 建立肺靜脈和左房解剖圖，在 Ensite navx 三維標測系統(tǒng)下行心臟電生理檢查，所有患者均先行肺靜脈電位檢驗，確定肺靜脈電位是否恢復(fù)傳導(dǎo)，如恢復(fù)傳導(dǎo)則應(yīng)用消融導(dǎo)管重新行環(huán)肺靜脈隔離并驗證。設(shè)置射頻消融儀輸出為 30～40w 的功率及冷鹽水泵速為 17ml／min。消融結(jié)束后利用環(huán)肺電極再次檢驗肺靜脈隔離情況，確保完全性的肺靜脈隔離。如完成肺靜脈隔離后心動過速未終止的患者則先行激動標測，并記錄結(jié)果保存供線下分析，如在行肺靜脈隔離術(shù)中有轉(zhuǎn)復(fù)竇性心律者，則在竇律下行基質(zhì)標測，記錄標測結(jié)果后使用離線軟件分析各點雙極電壓，從而得出心房雙極電壓的平均值，其低電壓點定義為雙極電壓 0.1～0.5mV, 導(dǎo)管貼靠較好但是無法標記電壓或雙極電壓<0.1 mV定義為瘢痕壓。在電壓圖顯示瘢痕點、低電壓點（圖 2）。

前壁基質(zhì)標測顯示多局灶性低電壓（LVZ＞10%）

【參考文獻】：
期刊論文
[1]血清PⅢNP及心房電壓標測對心房顫動患者射頻消融結(jié)果的影響[J]. 朱靜,徐健.  安徽醫(yī)科大學學報. 2012(12)
[2]心房電壓標測對心房顫動患者射頻消融結(jié)果的影響[J]. 夏云龍,王濤,解澤宙,林玉壁,高連君,張樹龍,尹曉盟,常棟,楊延宗.  臨床心血管病雜志. 2011(08)
[3]中國心房顫動現(xiàn)狀的流行病學研究[J]. 周自強,胡大一,陳捷,張仁漢,李奎寶,趙秀麗.  中華內(nèi)科雜志. 2004(07)



本文編號：3280441