熒光壽命數(shù)據(jù)的相量分析及其應(yīng)用
發(fā)布時間:2021-05-21 23:35
熒光壽命顯微成像技術(shù)(fluorescence lifetime imaging microscopy, FLIM)具有特異性強、靈敏度高、可定量測量等優(yōu)點,被廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)、材料學(xué)等領(lǐng)域的研究.為使FLIM技術(shù)更好地適用于高通量數(shù)據(jù)的快速分析,近年來涌現(xiàn)出多種熒光壽命分析的新算法.其中,相量分析法(phasor analysis, PA)通過將時間域的擬合轉(zhuǎn)化為頻率域的直接計算來獲得熒光壽命值,與傳統(tǒng)的最小二乘擬合法相比,不僅更加簡便快速,適用于低光子數(shù)情形,而且便于使數(shù)據(jù)內(nèi)容可視化和對數(shù)據(jù)進行聚類分析,因此越來越受到科研人員的青睞.本文詳細(xì)闡述了相量分析法的基本原理及運用方法,并在此基礎(chǔ)上介紹了該方法在細(xì)胞代謝狀態(tài)測量、蛋白質(zhì)相互作用研究、細(xì)胞微環(huán)境測量,以及輔助病理診斷和提高超分辨成像分辨率等方面的應(yīng)用,著重討論了PA法在這些FLIM應(yīng)用實例中的優(yōu)勢所在,為相關(guān)領(lǐng)域的研究提供有益的參考.最后,對熒光壽命數(shù)據(jù)的相量分析及其應(yīng)用的發(fā)展方向進行展望.
【文章來源】:物理學(xué)報. 2020,69(16)北大核心EISCICSCD
【文章頁數(shù)】:13 頁
本文編號:3200567
【文章來源】:物理學(xué)報. 2020,69(16)北大核心EISCICSCD
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