單側(cè)下頜第一磨牙缺失對(duì)咀嚼肌肌電的影響
本文關(guān)鍵詞:單側(cè)下頜第一磨牙缺失對(duì)咀嚼肌肌電的影響
【摘要】:目的本課題選取了長(zhǎng)期單側(cè)下頜第一磨牙缺失的患者作為研究對(duì)象,運(yùn)用Bio EMGⅢ肌電儀及其分析系統(tǒng),記錄和分析下頜姿勢(shì)位(MPP)、牙尖交錯(cuò)位(ICP)最大緊咬狀態(tài)下和咀嚼運(yùn)動(dòng)中雙側(cè)顳肌前束(TA)和咬肌(MM)的肌電活動(dòng)特征,并和正常咬合者進(jìn)行比較分析,以探究長(zhǎng)期單側(cè)下頜第一磨牙缺失患者在下頜功能運(yùn)動(dòng)中雙側(cè)TA和MM的肌電活動(dòng)變化及其對(duì)咀嚼功能的影響。方法選擇單側(cè)下頜第一磨牙缺失1年或以上并未行修復(fù)治療的患者18例作為實(shí)驗(yàn)組,牙合關(guān)系正常者18例作為對(duì)照組,應(yīng)用Bio EMGⅢ肌電儀記錄MPP、ICP最大緊咬狀態(tài)及咀嚼運(yùn)動(dòng)中雙側(cè)TA和MM的肌電活動(dòng)值,計(jì)算MPP和ICP最大緊咬狀態(tài)下雙側(cè)TA和MM的不對(duì)稱指數(shù),并測(cè)量計(jì)算咀嚼運(yùn)動(dòng)中各組咀嚼周期及活動(dòng)期和間歇期的數(shù)值,運(yùn)用SPSS17.0軟件對(duì)MPP和ICP最大緊咬狀態(tài)下實(shí)驗(yàn)組和對(duì)照組TA和MM的不對(duì)稱指數(shù)進(jìn)行配對(duì)t檢驗(yàn),其余數(shù)據(jù)進(jìn)行ANOVA方差分析。結(jié)果(1)實(shí)驗(yàn)組缺失側(cè)在MPP時(shí)TA和MM的肌電平均值均明顯高于對(duì)照組,且缺失側(cè)高于非缺失側(cè)(P0.05);(2)ICP最大緊咬狀態(tài)下和咀嚼運(yùn)動(dòng)中實(shí)驗(yàn)組TA和MM的肌電平均值小于對(duì)照組,且咀嚼運(yùn)動(dòng)中的差異更明顯(P0.05);(3)MPP和ICP最大緊咬狀態(tài)下實(shí)驗(yàn)組TA和MM的不對(duì)稱指數(shù)差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P0.05);(4)咀嚼運(yùn)動(dòng)中,實(shí)驗(yàn)組缺失側(cè)和非缺失側(cè)咀嚼的咀嚼周期均大于對(duì)照組,且缺失側(cè)咀嚼的咀嚼周期大于非缺失側(cè)(P0.05);(5)咀嚼運(yùn)動(dòng)中,實(shí)驗(yàn)組缺失側(cè)和非缺失側(cè)咀嚼的活動(dòng)期和間歇期均大于對(duì)照組(P0.05),實(shí)驗(yàn)組缺失側(cè)活動(dòng)期和間歇期的比值大于非缺失側(cè)和對(duì)照組(P0.05)。結(jié)論長(zhǎng)期單側(cè)下頜第一磨牙缺失對(duì)咀嚼肌肌電活動(dòng)及其運(yùn)動(dòng)的對(duì)稱性均會(huì)產(chǎn)生不同程度的影響,并可能成為咀嚼系統(tǒng)功能紊亂的誘發(fā)原因之一。
【關(guān)鍵詞】:第一磨牙 咀嚼肌 表面肌電圖
【學(xué)位授予單位】:安徽醫(yī)科大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:R783.5
【目錄】:
- 中英文縮略詞表5-6
- 中文摘要6-7
- 英文摘要7-9
- 前言9-13
- 材料與方法13-17
- 結(jié)果17-23
- 討論23-31
- 結(jié)論31-32
- 參考文獻(xiàn)32-37
- 附錄37-38
- 致謝38-39
- 綜述39-44
- 參考文獻(xiàn)42-44
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,本文編號(hào):616723
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