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正畸牽引力對(duì)牙釉質(zhì)層微觀結(jié)構(gòu)的影響

發(fā)布時(shí)間:2022-10-09 13:11
  目的探討正畸牽引力對(duì)牙釉質(zhì)層微觀結(jié)構(gòu)的影響,為口腔正畸臨床實(shí)踐提供力學(xué)依據(jù)。方法選取48顆離體前磨牙,隨機(jī)分為6組,8顆/組。A組為空白對(duì)照組,僅使用光固化粘接法粘接正畸托槽,不加任何力。B1、B2、B3組均使用光固化粘接法粘接正畸托槽,分別加載50 g力持續(xù)6月,200 g力持續(xù)6月和200 g力持續(xù)1月。C1、C2組分別使用光固化粘接和化學(xué)固化粘接技術(shù)粘接托槽。對(duì)試樣組的牙齒進(jìn)行不脫鈣環(huán)氧樹脂包埋,經(jīng)硬組織切片機(jī)切片后,使用掃描電子顯微鏡(SEM)、原子力顯微鏡(AFM)及能譜儀(EDS)對(duì)斷裂界面形態(tài)和元素組成進(jìn)行分析。結(jié)果實(shí)驗(yàn)組離體牙相比對(duì)照組粘合劑殘余指數(shù)較大,SEM觀察到牙釉質(zhì)表面出現(xiàn)微裂紋和空隙結(jié)構(gòu),AFM顯示不同粘接方式釉質(zhì)表面形成與打磨方向呈角度的微裂紋。實(shí)驗(yàn)組隨托槽上加的力值增大,牙釉質(zhì)界面微裂隙越多。界面粗糙度方面A與C2組具有差異(P<0.05);峰-谷距離方面,A、C1和C2組三者具有顯著差異(P<0.05)。結(jié)論正畸牽引力改變了正常牙釉質(zhì)層的微觀結(jié)構(gòu)。 

【文章頁數(shù)】:7 頁

【文章目錄】:
1 材料和方法
    1.1 實(shí)驗(yàn)材料與儀器
    1.2 方法
        1.2.1 試樣制備
        1.2.2 實(shí)驗(yàn)分組
        1.2.3 粘接劑殘余指數(shù)評(píng)價(jià)
        1.2.4 剪切力加載
        1.2.5 SEM與EDS表征
        1.2.6 AFM形貌與力學(xué)性質(zhì)測(cè)量
        1.2.7 統(tǒng)計(jì)分析
2 結(jié)果
    2.1 粘接劑殘余指數(shù)評(píng)價(jià)結(jié)果
    2.2 剪切力強(qiáng)度比較
    2.3 試件表面微形態(tài)掃描電鏡觀察
    2.4 試件EDS組分分析
    2.5 試件AFM微形貌分析與力學(xué)性質(zhì)測(cè)量
    2.6 模擬范式等效應(yīng)力在牙體和樹脂突的應(yīng)力分布
3 討論



本文編號(hào):3688696

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