新生兒低血糖及低血糖腦損傷的臨床資料分析
發(fā)布時(shí)間:2017-11-08 23:01
本文關(guān)鍵詞:新生兒低血糖及低血糖腦損傷的臨床資料分析
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【摘要】:目的:探討新生兒低血糖反復(fù)發(fā)生的危險(xiǎn)因素,研究低血糖腦損傷的危險(xiǎn)因素及其臨床特征分析總結(jié)。 方法:回顧性分析新生兒低血糖患兒及糖尿病母親新生兒的臨床資料,依據(jù)不同的條件分為1.低血糖發(fā)生1次和低血糖反復(fù)發(fā)生組;2.低血糖腦損傷組和無(wú)腦損傷組;3.妊娠糖尿病母親新生兒合并低血糖和無(wú)低血糖發(fā)生組;采用統(tǒng)計(jì)學(xué)方法進(jìn)行對(duì)比分析。 結(jié)果:患兒胎齡、出生體重、有無(wú)宮內(nèi)窘迫、胎膜早破及孕母年齡在低血糖發(fā)作組比較差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義;低血糖腦損傷組嚴(yán)重低血糖患兒例數(shù)高于無(wú)腦損傷組,最低血糖值低于無(wú)腦損傷組,,低血糖持續(xù)時(shí)間高于無(wú)腦損傷組。遠(yuǎn)期隨訪低血糖腦損傷部分患兒頭顱影像學(xué)正常,影像學(xué)有可逆現(xiàn)象,部分患兒出現(xiàn)腦癱、癲癇等情況;糖尿病母親新生兒兩組患兒頭圍、孕周、是否多胎妊娠、宮內(nèi)窘迫、母親年齡、母親妊娠高血壓綜合征、NRDS差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。 結(jié)論: 1.患兒胎齡、出生體重、有無(wú)宮內(nèi)窘迫、有無(wú)胎膜早破以及孕母年齡均為新生兒低血糖患兒血糖反復(fù)發(fā)生的相關(guān)危險(xiǎn)因素。 2.癥狀性低血糖對(duì)低血糖腦損傷有一定提示作用,驚厥發(fā)生提示低血糖腦損傷發(fā)生,另一方面頻繁驚厥將加重低血糖腦損傷。患兒胎齡、出生體重、嚴(yán)重低血糖、最低血糖值、低血糖持續(xù)時(shí)間、驚厥均與新生兒低血糖腦損傷發(fā)生相關(guān)。 3.低血糖腦損傷部位以雙側(cè)頂枕葉后部腦組織為主,特征性為雙側(cè)對(duì)稱性分布,部分患兒病變廣泛累及皮層。 4.隨訪低血糖腦損傷患兒9例,5患兒生長(zhǎng)發(fā)育基本正常;4例發(fā)生腦癱和(或)癲癇。 5.多胎妊娠、宮內(nèi)窘迫、母親年齡、母親妊娠高血壓綜合征均與妊娠糖尿病母親新生兒發(fā)生低血糖相關(guān)。
【學(xué)位授予單位】:重慶醫(yī)科大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2014
【分類號(hào)】:R722.19
【參考文獻(xiàn)】
中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前2條
1 毛健;陳麗英;富建華;李娟;段洋;薛辛東;;新生兒低血糖腦損傷臨床特征與磁共振成像動(dòng)態(tài)變化[J];中國(guó)當(dāng)代兒科雜志;2008年02期
2 李文軍;王寶鳳;馮靜;;腦電圖監(jiān)測(cè)在新生兒低血糖腦損傷中的應(yīng)用[J];臨床醫(yī)學(xué);2013年05期
本文編號(hào):1159183
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