雙頻/寬帶寬角頻率選擇和線圓極化變換表面研究
【文章頁數(shù)】:137 頁
【學(xué)位級別】:博士
【部分圖文】:
圖1-2兩對不等寬度和長度的SIW傳輸線[6]
2006年,C.Tseng等人研究了一種基于不等寬度的SIW傳輸線的測試基板方法[6],如圖1-2所示。該方法根據(jù)SIW等效寬度和長度隨頻率變化關(guān)系,并結(jié)合傳輸系數(shù)公式,獲取基板介電常數(shù)。測試基板為RO4003,測試頻段為26-40GHz。2013年,F.Fesharaki等人研....
圖1-3 SIW傳輸線測試裝置[7]
2013年,F.Fesharaki等人研究了在SIW傳輸線中間挖孔,并將待測材料置于孔中,通過測試SIW兩端口傳輸系數(shù),利用圖解法得到待測材料復(fù)介電常數(shù)關(guān)于S參數(shù)的函數(shù),從而得到相應(yīng)的電特性參數(shù)[7]。測試裝置如圖1-3所示,測試頻段為12-18GHz。圖1-4疊層波導(dǎo)傳輸線[8....
圖1-4疊層波導(dǎo)傳輸線[8]
圖1-3SIW傳輸線測試裝置[7]2014年,X.Wang等人研究了基于不同長度和橫截面折疊波導(dǎo)傳輸線,利用不同傳輸線兩端傳輸系數(shù)對比提取出介質(zhì)電特性參數(shù)[8],如圖1-4所示,測試頻率為79GHz。
圖1-5 SIW腔體微擾測試裝置[9]
2008年,K.Saeed等人研究了一種基于SIW腔微擾測試技術(shù)[9],如圖1-5所示,待測樣品通過波導(dǎo)側(cè)壁通孔插入腔體內(nèi)部,并對腔體諧振模式產(chǎn)生微擾,利用微擾前后諧振頻率的變化反演得出待測樣品的電性能參數(shù),測試頻率為8GHz。2010年,D.Zelenchuk等人研究了分別基于....
本文編號:4013937
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