基于物理仿真的高功率脈沖磁控濺射的優(yōu)化與放電解析
發(fā)布時(shí)間:2021-08-30 06:20
高功率脈沖磁控濺射(HiPIMS)是在磁控靶上施加低占空比的高功率脈沖以產(chǎn)生高能量、高密度等離子體的一種新型磁控濺射技術(shù)。該技術(shù)具有較高的濺射材料離化率,其制備的薄膜可產(chǎn)生高致密度、高結(jié)合力以及高綜合力學(xué)性能。然而HiPIMS存在沉積速率低、放電不穩(wěn)定、濺射材料離化率不一等缺陷,嚴(yán)重阻礙了其在工業(yè)界的推廣和應(yīng)用。本工作從基本物理原理入手,借鑒空心陰極原理,提出筒內(nèi)放電的空心陰極效應(yīng)強(qiáng)化的新型陰極結(jié)構(gòu),采用粒子網(wǎng)格/蒙特卡洛方法驗(yàn)證了空心陰極強(qiáng)化效應(yīng);為提高沉積效率,提出等離子體束流的電磁控制方案,建立了等離子體輸運(yùn)特性仿真模型并發(fā)現(xiàn)電磁控制可以有效減少等離子體損耗,控制涂層組分,提高沉積速率;建立了空心陰極效應(yīng)耦合的時(shí)間分辨整體模型,實(shí)現(xiàn)了對(duì)N2/Ar/Cr復(fù)雜體系下HiPIMS放電過程解析,發(fā)現(xiàn)了不同放電粒子的異步放電現(xiàn)象及其對(duì)演化曲線的作用形式。為了驗(yàn)證仿真模型的準(zhǔn)確性,使用納秒精度的時(shí)間分辨光譜儀對(duì)HiPIMS體系中多種典型離子進(jìn)行追蹤,得到的實(shí)驗(yàn)結(jié)果與仿真結(jié)果吻合。具體結(jié)論如下:1.空心陰極的引入可以增強(qiáng)放電效果,使HiPIMS放電過程強(qiáng)烈且穩(wěn)定,等離子體...
【文章來源】:北京大學(xué)北京市 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁(yè)數(shù)】:93 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:博士
【部分圖文】:
傳統(tǒng)磁控濺射的原理示意圖[4]
2過程中可維持較低的平均功率防止磁控陰極由于溫度過高而融化[8]。典型的HiPIMS一個(gè)脈沖中的放電電壓及電流的曲線如圖1.2所示[8],在施加放電電壓后,氣體需要一定的時(shí)間才能被擊穿產(chǎn)生等離子體,因此電流激發(fā)的時(shí)間相對(duì)放電壓激發(fā)的時(shí)間有滯后約50μs。與常規(guī)的磁控濺射技術(shù)相比,HiPIMS技術(shù)擁有更寬的工藝窗口,因?yàn)槌丝刂品烹婋妷汉头逯倒β拭芏鹊葌鹘y(tǒng)參數(shù)外,該技術(shù)還可以控制由放電脈沖引入的諸如占空比、脈沖寬度、脈沖頻率、脈沖波形等其他工藝參數(shù),大大提高了工藝可控性[9,10]。在HiPIMS技術(shù)放電過程中,其峰值功率密度最高可達(dá)到10kW/cm2,因此該技術(shù)的濺射材料離化率最高可達(dá)到90%[11,12]。圖1.2典型的HiPIMS一個(gè)脈沖內(nèi)的放電電壓及電流曲線[5]濺射材料的原子被電離后,由于受到帶負(fù)電位的靶材的吸引,部分濺射材料離子會(huì)返回并轟擊靶面發(fā)生自濺射。在極端的條件下,如式1.1所示,濺射材料離子的自濺射過程足以維持等離子體的放電反應(yīng),Anders等[13]將其定義為自持自濺射。Π=αβγ=1(1.1)其中П為自濺射系數(shù),α為濺射材料離化率,β為濺射材料離子返回靶面發(fā)生濺射的概率(離子返回概率),γ為材料濺射率(由材料的種類和濺射離子的能量決定)。對(duì)HiPIMS技術(shù)來說,其濺射材料離化率和離子返回概率[14]比普通的磁控濺射技術(shù)高,同時(shí)HiPIMS技術(shù)產(chǎn)生的高能離子提高了材料的濺射率,因此對(duì)于同種材料而言,HiPIMS更容易達(dá)到自持自濺射的條件。通常情況下,α和β的值均小于1,因此需要達(dá)到自持自濺射的條件就必須要求γ大于1,利用HiPIMS技術(shù)可對(duì)濺射率較高的材料(例如Cu)實(shí)現(xiàn)自持自濺射[8,15]。HiPIMS自濺射原理示意圖[16]如圖1.3所示,透過該圖可解釋HiPIMS放電的基本原理。圖中左右兩端分別為濺射材料?
3由于工作氣體的參與,在HiPIMS放電達(dá)到穩(wěn)態(tài)之前,存在自濺射系數(shù)П大于1的過渡階段,此時(shí)濺射材料的粒子密度迅速上升,對(duì)應(yīng)著HiPIMS電流的上升階段。隨著放電的進(jìn)行,由于電子被濺射材料的原子冷卻,電離碰撞概率減小,濺射材料離化率α逐漸降低;濺射材料離子由于濃度迅速上升而溢出放電區(qū)域,并沉積到基片上,導(dǎo)致離子返回概率β逐漸降低,因此自濺射系數(shù)П逐漸減小并使HiPIMS放電趨于穩(wěn)定。圖1.3HiPIMS放電自濺射原理示意圖[16]1.1.2HiPIMS的應(yīng)用在傳統(tǒng)的磁控濺射的結(jié)構(gòu)形貌示意圖[17]的基礎(chǔ)上,Anders[18]對(duì)原有模型進(jìn)行了修正并將其擴(kuò)展到能夠在高能量離子沉積的條件下適用,發(fā)現(xiàn)HiPIMS薄膜形貌的變化范圍較廣,并可以此推測(cè)HiPIMS的薄膜形貌與工藝參數(shù)的關(guān)系,如圖1.4所示。由于HiPIMS技術(shù)的濺射材料粒子具有高離化率和高離子能量,該技術(shù)制備的薄膜往往具有致密度高[19],結(jié)合力大[20]和綜合性能好[21-23]等特性。此外,HiPIMS技術(shù)制備對(duì)工件的適應(yīng)性較好,尤其是在對(duì)表面結(jié)構(gòu)復(fù)雜的工件進(jìn)行表面處理時(shí),這是因?yàn)镠iPIMS放電產(chǎn)生的濺射材料粒子具有優(yōu)秀的繞射性[24],在涂層制備過程中可通過增加外加電磁場(chǎng)和基片偏壓對(duì)等離子體束流中沉積離子的能量和角度進(jìn)行調(diào)控,實(shí)現(xiàn)涂層的均勻沉積[24-27],同時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)其結(jié)構(gòu)和性能的優(yōu)化控制[22,23]。因此HiPIMS技術(shù)在民用和軍工領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用[28],特別是該技術(shù)制備的涂層具有的高致密度和高結(jié)合力的特點(diǎn),使其在有關(guān)耐腐蝕和耐磨損的表面改性領(lǐng)域被迅速推廣[29]。此外,由于HiPIMS放電的工藝條件處于異常輝光區(qū)域[30],介于正常輝光放電和弧光放電之間,如圖1.5所示,因此HiPIMS技術(shù)兼?zhèn)鋫鹘y(tǒng)磁控濺射技術(shù)和陰極弧離子鍍技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)[31,32],一度被業(yè)內(nèi)認(rèn)為是最
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]筒內(nèi)高功率脈沖磁控放電的電磁控制與優(yōu)化[J]. 崔歲寒,吳忠振,肖舒,劉亮亮,鄭博聰,林海,傅勁裕,田修波,朱劍豪,譚文長(zhǎng),潘鋒. 物理學(xué)報(bào). 2017(09)
[2]筒形高功率脈沖磁控濺射源的開發(fā)與放電特性[J]. 肖舒,吳忠振,崔歲寒,劉亮亮,鄭博聰,林海,傅勁裕,田修波,潘鋒,朱劍豪. 物理學(xué)報(bào). 2016(18)
[3]Influence of Substrate Negative Bias on Structure and Properties of TiN Coatings Prepared by Hybrid HIPIMS Method[J]. Zhenyu Wang,Dong Zhang,Peiling Ke,Xincai Liu,Aiying Wang. Journal of Materials Science & Technology. 2015(01)
[4]不同靶材料的高功率脈沖磁控濺射放電行為[J]. 吳忠振,田修波,潘鋒,付勁裕,朱劍豪. 金屬學(xué)報(bào). 2014(10)
[5]可調(diào)脈沖功率(MPP)磁控濺射電源研制及放電特性的研究[J]. 魏松,田修波,鞏春志. 真空. 2013(03)
[6]磁控濺射技術(shù)及其發(fā)展[J]. 李芬,朱穎,李劉合,盧求元,朱劍豪. 真空電子技術(shù). 2011(03)
[7]空心陰極直流放電的二維自洽模型描述和陰極濺射分析[J]. 賴建軍,余建華,黃建軍,王新兵,丘軍林. 物理學(xué)報(bào). 2001(08)
博士論文
[1]脈沖等離子體工藝中等離子體與表面相互作用數(shù)值研究[D]. 鄭博聰.大連理工大學(xué) 2016
碩士論文
[1]高功率復(fù)合脈沖磁控濺射放電特性及氮化物薄膜制備[D]. 段偉贊.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2010
[2]直流輝光放電電離特性的PIC/MCC模擬[D]. 宮文英.電子科技大學(xué) 2009
[3]PIC/MCC模擬直流平面磁控濺射[D]. 趙華玉.大連理工大學(xué) 2008
本文編號(hào):3372238
【文章來源】:北京大學(xué)北京市 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校
【文章頁(yè)數(shù)】:93 頁(yè)
【學(xué)位級(jí)別】:博士
【部分圖文】:
傳統(tǒng)磁控濺射的原理示意圖[4]
2過程中可維持較低的平均功率防止磁控陰極由于溫度過高而融化[8]。典型的HiPIMS一個(gè)脈沖中的放電電壓及電流的曲線如圖1.2所示[8],在施加放電電壓后,氣體需要一定的時(shí)間才能被擊穿產(chǎn)生等離子體,因此電流激發(fā)的時(shí)間相對(duì)放電壓激發(fā)的時(shí)間有滯后約50μs。與常規(guī)的磁控濺射技術(shù)相比,HiPIMS技術(shù)擁有更寬的工藝窗口,因?yàn)槌丝刂品烹婋妷汉头逯倒β拭芏鹊葌鹘y(tǒng)參數(shù)外,該技術(shù)還可以控制由放電脈沖引入的諸如占空比、脈沖寬度、脈沖頻率、脈沖波形等其他工藝參數(shù),大大提高了工藝可控性[9,10]。在HiPIMS技術(shù)放電過程中,其峰值功率密度最高可達(dá)到10kW/cm2,因此該技術(shù)的濺射材料離化率最高可達(dá)到90%[11,12]。圖1.2典型的HiPIMS一個(gè)脈沖內(nèi)的放電電壓及電流曲線[5]濺射材料的原子被電離后,由于受到帶負(fù)電位的靶材的吸引,部分濺射材料離子會(huì)返回并轟擊靶面發(fā)生自濺射。在極端的條件下,如式1.1所示,濺射材料離子的自濺射過程足以維持等離子體的放電反應(yīng),Anders等[13]將其定義為自持自濺射。Π=αβγ=1(1.1)其中П為自濺射系數(shù),α為濺射材料離化率,β為濺射材料離子返回靶面發(fā)生濺射的概率(離子返回概率),γ為材料濺射率(由材料的種類和濺射離子的能量決定)。對(duì)HiPIMS技術(shù)來說,其濺射材料離化率和離子返回概率[14]比普通的磁控濺射技術(shù)高,同時(shí)HiPIMS技術(shù)產(chǎn)生的高能離子提高了材料的濺射率,因此對(duì)于同種材料而言,HiPIMS更容易達(dá)到自持自濺射的條件。通常情況下,α和β的值均小于1,因此需要達(dá)到自持自濺射的條件就必須要求γ大于1,利用HiPIMS技術(shù)可對(duì)濺射率較高的材料(例如Cu)實(shí)現(xiàn)自持自濺射[8,15]。HiPIMS自濺射原理示意圖[16]如圖1.3所示,透過該圖可解釋HiPIMS放電的基本原理。圖中左右兩端分別為濺射材料?
3由于工作氣體的參與,在HiPIMS放電達(dá)到穩(wěn)態(tài)之前,存在自濺射系數(shù)П大于1的過渡階段,此時(shí)濺射材料的粒子密度迅速上升,對(duì)應(yīng)著HiPIMS電流的上升階段。隨著放電的進(jìn)行,由于電子被濺射材料的原子冷卻,電離碰撞概率減小,濺射材料離化率α逐漸降低;濺射材料離子由于濃度迅速上升而溢出放電區(qū)域,并沉積到基片上,導(dǎo)致離子返回概率β逐漸降低,因此自濺射系數(shù)П逐漸減小并使HiPIMS放電趨于穩(wěn)定。圖1.3HiPIMS放電自濺射原理示意圖[16]1.1.2HiPIMS的應(yīng)用在傳統(tǒng)的磁控濺射的結(jié)構(gòu)形貌示意圖[17]的基礎(chǔ)上,Anders[18]對(duì)原有模型進(jìn)行了修正并將其擴(kuò)展到能夠在高能量離子沉積的條件下適用,發(fā)現(xiàn)HiPIMS薄膜形貌的變化范圍較廣,并可以此推測(cè)HiPIMS的薄膜形貌與工藝參數(shù)的關(guān)系,如圖1.4所示。由于HiPIMS技術(shù)的濺射材料粒子具有高離化率和高離子能量,該技術(shù)制備的薄膜往往具有致密度高[19],結(jié)合力大[20]和綜合性能好[21-23]等特性。此外,HiPIMS技術(shù)制備對(duì)工件的適應(yīng)性較好,尤其是在對(duì)表面結(jié)構(gòu)復(fù)雜的工件進(jìn)行表面處理時(shí),這是因?yàn)镠iPIMS放電產(chǎn)生的濺射材料粒子具有優(yōu)秀的繞射性[24],在涂層制備過程中可通過增加外加電磁場(chǎng)和基片偏壓對(duì)等離子體束流中沉積離子的能量和角度進(jìn)行調(diào)控,實(shí)現(xiàn)涂層的均勻沉積[24-27],同時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)其結(jié)構(gòu)和性能的優(yōu)化控制[22,23]。因此HiPIMS技術(shù)在民用和軍工領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用[28],特別是該技術(shù)制備的涂層具有的高致密度和高結(jié)合力的特點(diǎn),使其在有關(guān)耐腐蝕和耐磨損的表面改性領(lǐng)域被迅速推廣[29]。此外,由于HiPIMS放電的工藝條件處于異常輝光區(qū)域[30],介于正常輝光放電和弧光放電之間,如圖1.5所示,因此HiPIMS技術(shù)兼?zhèn)鋫鹘y(tǒng)磁控濺射技術(shù)和陰極弧離子鍍技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)[31,32],一度被業(yè)內(nèi)認(rèn)為是最
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]筒內(nèi)高功率脈沖磁控放電的電磁控制與優(yōu)化[J]. 崔歲寒,吳忠振,肖舒,劉亮亮,鄭博聰,林海,傅勁裕,田修波,朱劍豪,譚文長(zhǎng),潘鋒. 物理學(xué)報(bào). 2017(09)
[2]筒形高功率脈沖磁控濺射源的開發(fā)與放電特性[J]. 肖舒,吳忠振,崔歲寒,劉亮亮,鄭博聰,林海,傅勁裕,田修波,潘鋒,朱劍豪. 物理學(xué)報(bào). 2016(18)
[3]Influence of Substrate Negative Bias on Structure and Properties of TiN Coatings Prepared by Hybrid HIPIMS Method[J]. Zhenyu Wang,Dong Zhang,Peiling Ke,Xincai Liu,Aiying Wang. Journal of Materials Science & Technology. 2015(01)
[4]不同靶材料的高功率脈沖磁控濺射放電行為[J]. 吳忠振,田修波,潘鋒,付勁裕,朱劍豪. 金屬學(xué)報(bào). 2014(10)
[5]可調(diào)脈沖功率(MPP)磁控濺射電源研制及放電特性的研究[J]. 魏松,田修波,鞏春志. 真空. 2013(03)
[6]磁控濺射技術(shù)及其發(fā)展[J]. 李芬,朱穎,李劉合,盧求元,朱劍豪. 真空電子技術(shù). 2011(03)
[7]空心陰極直流放電的二維自洽模型描述和陰極濺射分析[J]. 賴建軍,余建華,黃建軍,王新兵,丘軍林. 物理學(xué)報(bào). 2001(08)
博士論文
[1]脈沖等離子體工藝中等離子體與表面相互作用數(shù)值研究[D]. 鄭博聰.大連理工大學(xué) 2016
碩士論文
[1]高功率復(fù)合脈沖磁控濺射放電特性及氮化物薄膜制備[D]. 段偉贊.哈爾濱工業(yè)大學(xué) 2010
[2]直流輝光放電電離特性的PIC/MCC模擬[D]. 宮文英.電子科技大學(xué) 2009
[3]PIC/MCC模擬直流平面磁控濺射[D]. 趙華玉.大連理工大學(xué) 2008
本文編號(hào):3372238
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