本文關(guān)鍵詞：CCD放大器測試方法的研究與實(shí)現(xiàn)，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：CCD作為半導(dǎo)體器件的一種,可以完成光學(xué)影像到數(shù)字信號的轉(zhuǎn)化,英文全稱:Charge-coupled Device,中文全稱:電荷耦合器件。CCD在天文學(xué)、數(shù)碼攝影,特別是光學(xué)與頻譜望遠(yuǎn)鏡、光學(xué)遙測技術(shù)和高速攝影技術(shù)等應(yīng)用廣泛;CCD顯著特點(diǎn)是具有小功耗、小體積、輕重量、長壽命、低噪聲、性能穩(wěn)定、抗沖擊與震動(dòng)、高靈敏度、低工作電壓、大動(dòng)態(tài)范圍、快響應(yīng)速度等。CCD是現(xiàn)代國防武器裝備獲取信息的關(guān)鍵部件,是衛(wèi)星的眼睛,在衛(wèi)星定位、資源探測、導(dǎo)彈尋的、衛(wèi)星偵察、微光夜視和天文觀測等系統(tǒng)中得到廣泛應(yīng)用,在推動(dòng)裝備的發(fā)展,提高裝備系統(tǒng)的性能和水平等方面發(fā)揮著十分重要的作用。CCD性能的優(yōu)劣直接影響了裝備系統(tǒng)的最終性能。CCD在工藝制作中出現(xiàn)問題,會(huì)嚴(yán)重影響CCD的性能,CCD失效。常見的失效模式有:飽和輸出電壓低、轉(zhuǎn)移效率差和暗電流大等。為避免研制出的CCD器件失效,在CCD的研制初期,采用簡單可行的測試方法,準(zhǔn)確的測試出放大器的輸入輸出曲線和增益曲線,獲得CCD的直流輸出電壓、增益最大值和工作的線性區(qū)等性能參數(shù),用于CCD工藝狀態(tài)的監(jiān)控和改善,是非常必要的。本論文正是針對上述問題,以高性能CCD源跟隨放大器為主要的研究對象,在深入分析當(dāng)今CCD工藝制作技術(shù)和CCD工作原理的基礎(chǔ)上,對CCD源跟隨放大器的測試方法進(jìn)行了詳盡的討論和研究,依據(jù)其他種類放大器測試方法分析思路和國外對CCD源跟隨放大器測試方法的研究,提出了一種適合CCD源跟隨放大器的測試方法,該方法能準(zhǔn)確的測試出放大器的輸入輸出曲線和增益曲線,獲得CCD的直流輸出電壓、增益最大值和工作的線性區(qū)等性能參數(shù),實(shí)現(xiàn)CCD源跟隨放大器的測試。
【關(guān)鍵詞】：源跟隨放大器 直流輸出電壓 增益 工作線性區(qū)
【學(xué)位授予單位】：電子科技大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號】：TN386.5
【目錄】：

• 摘要5-6
• ABSTRACT6-10
• 第一章 緒論10-17
• 1.1 CCD的應(yīng)用與發(fā)展10-14
• 1.2 本文主要工作14-15
• 1.3 本論文的結(jié)構(gòu)安排15-17
• 第二章 CCD及源跟隨放大器的理論研究與工藝設(shè)計(jì)17-47
• 2.1 CCD的分類17-19
• 2.2 CCD的性能參數(shù)19-20
• 2.3 CCD及源跟隨放大器的工作原理20-35
• 2.3.1 CCD的基本結(jié)構(gòu)20-26
• 2.3.2 CCD的信號輸入26-28
• 2.3.3 CCD的電荷轉(zhuǎn)移28-34
• 2.3.4 CCD的信號輸出34-35
• 2.4 CCD及源跟隨放大器的工藝設(shè)計(jì)35-46
• 2.4.1 清洗及熱氧化工藝36-38
• 2.4.2 摻雜及薄膜淀積工藝38-40
• 2.4.3 光刻及布線工藝40-43
• 2.4.4 退火及中測工藝43-46
• 2.5 本章小結(jié)46-47
• 第三章 CCD放大器測試方法的研究與實(shí)現(xiàn)47-62
• 3.1 CCD放大器MOS結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)值及工作條件47-48
• 3.2 CCD放大器的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及電路圖48
• 3.3 CCD放大器的測試原理48-49
• 3.4 CCD放大器的測試條件49
• 3.5 CCD放大器的測試電路圖49-50
• 3.6 CCD放大器測試系統(tǒng)的選擇50-52
• 3.7 CCD放大器測試系統(tǒng)軟件的編制52-56
• 3.8 不同類別CCD器件放大器測試結(jié)果56-61
• 3.9 本章小結(jié)61-62
• 第四章 CCD源跟隨放大器測試結(jié)果分析62-71
• 4.1 影響直流輸出電壓的因素62-66
• 4.2 失效CCD器件放大器測試結(jié)果及分析66-70
• 4.2.1 放大倍數(shù)低67-68
• 4.2.2 線性區(qū)窄68-69
• 4.2.3 工作點(diǎn)漂移69-70
• 4.3 本章小結(jié)70-71
• 第五章 結(jié)論71-73
• 5.1 本文的主要貢獻(xiàn)71
• 5.2 下一步工作的展望71-73
• 致謝73-74
• 參考文獻(xiàn)74-77
• 攻碩期間取得的研究成果77-78

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