二維電子材料及電子器件的初步研究
【學位單位】:華東師范大學
【學位級別】:碩士
【學位年份】:2020
【中圖分類】:TN30
【部分圖文】:
華東師范大學碩士學位論文2石墨烯具有雙極性的場效應(yīng)[11,12]。當柵壓為正,導(dǎo)帶與價帶的電勢降低,導(dǎo)致本在狄拉克點處的費米能級位于狄拉克點上方,則石墨烯中的多子是電子,石墨烯呈n型;當柵壓為負,導(dǎo)帶與價帶的電勢上升,費米能級位于狄拉克點下方,則石墨烯中的多子為空穴,石墨烯呈p型[13]。圖1.1(a)石墨烯的晶格結(jié)構(gòu)以及碳材料其他維度材料;(b)石墨烯的雙極性場效應(yīng)以及石墨烯的能帶結(jié)構(gòu)[1]。然而,石墨烯投入實際晶體管的應(yīng)用面臨一個很大的問題:禁帶寬度為零,導(dǎo)致石墨烯場效應(yīng)晶體管的關(guān)態(tài)電流很大[14]�?蒲泄ぷ髡哌M行了大量研究,嘗試讓石墨烯產(chǎn)生帶隙,具體有以下幾種方法:1,將石墨烯做成納米帶,使得石墨烯只有一個很小的寬度,通過量子限制可以打開石墨烯的帶隙;2,元素摻雜也可以改變石墨烯的能帶結(jié)構(gòu),給石墨烯摻雜氮化硼、三氧化鉻、硅等等雜質(zhì)可以打開帶隙;3,刻意在石墨烯中引入周期性的缺陷,使得缺陷達成正六邊形周期結(jié)構(gòu),構(gòu)成石墨烯缺陷的超晶格結(jié)構(gòu);4,石墨烯表面吸附氫原子等等原子也打開不同大小的帶隙。通過這一系列的研究措施,石墨烯場效應(yīng)晶體管的關(guān)態(tài)電流和開關(guān)比不斷得到突破[15-18]。1.1.2過渡金屬硫化物石墨烯由于沒有帶隙,在電子領(lǐng)域和光電領(lǐng)域受到極大的限制,這也同時讓研究者們轉(zhuǎn)向有半導(dǎo)體特性的過渡金屬硫化物的研究,比如MoS2,MoSe2,WSe2
華東師范大學碩士學位論文3等等[19-25]。過渡金屬硫化物的晶格結(jié)構(gòu)為MX2,M為過渡金屬元素,X為硫族元素。過渡金屬硫化物的相結(jié)構(gòu)有很多種,這取決于過渡金屬原子的配位層[26]。如圖1.2(b)所示,其常見的相有兩種:一種是2H相,即金屬原子三角棱柱配位,ABA結(jié)構(gòu)堆垛,不同原子平面的硫族原子位于同樣的位置A,相較于中心B上下對稱重疊,通常2H相的過渡金屬硫化物為半導(dǎo)體,有帶隙;另一種相是1T相,即金屬原子八面體配位,ABC結(jié)構(gòu)堆垛。通過將不同的硫族元素和不同的金屬元素進行組合,過渡金屬硫化物的相會有很多種,但是在熱力學穩(wěn)定下的只有2H相和1T相,其余的相則為過渡金屬硫化物的亞穩(wěn)態(tài)相。據(jù)統(tǒng)計,在由第六族過渡金屬原子構(gòu)成的過渡金屬硫化物中,大約六分之五的比例的過渡金屬硫化物,其2H相是熱力學穩(wěn)定的,1T相可以由亞穩(wěn)態(tài)相獲得,不過WTe2除外,其在室溫下的穩(wěn)定相是正交型的1Td相。過渡金屬硫化物的結(jié)構(gòu)是由堆疊的每一層樣品結(jié)構(gòu)所決定的,一旦出現(xiàn)一些破壞周期性的結(jié)構(gòu)扭曲就有可能產(chǎn)生亞穩(wěn)態(tài)相,1T相的結(jié)構(gòu)由于周期性的結(jié)構(gòu)扭曲變成1T’相[27]。圖1.2(a)過渡金屬硫化物常見的三種晶格結(jié)構(gòu)相:2H相、1T相、1T’相;(b)理論計算得到的不同層數(shù)MoS2的能帶結(jié)構(gòu)[26]。二維過渡金屬硫化物半導(dǎo)體有一個突出優(yōu)點:能帶結(jié)構(gòu)隨材料層數(shù)可調(diào)[28-33]。如圖1.2(b)所示的MoS2的能帶結(jié)構(gòu),從單層到兩層再到塊材,能帶結(jié)構(gòu)有兩
華東師范大學碩士學位論文4點變化:能帶結(jié)構(gòu)類型和禁帶寬度大校首先只有單層MoS2的能帶是直接帶隙的,其余的都是間接帶隙[34]。此外,隨著MoS2層數(shù)的增加,MoS2的帶隙不斷地減校由理論計算得到,單層MoS2的帶隙大約是1.71eV,塊材MoS2的帶隙大約是0.88eV,并且價帶頂和導(dǎo)帶底的兩個值,對應(yīng)于兩個不等價的高對稱點K和K’,即六角布里淵區(qū)的兩個角。單層的2H相的MoS2還有一個特點,其缺乏反轉(zhuǎn)對稱性,這就會帶來自旋軌道耦合帶來的電子能帶分裂。正因為二維過渡金屬硫化物上述的種種優(yōu)點,研究者們投入了大量的研究于其中,并且頻繁的有讓人振奮的工作報道,二維過渡金屬硫化物很有可能在以后的電子領(lǐng)域大有作為。1.2基于二維電子材料的電子器件1.2.1基于二維電子材料的場效應(yīng)晶體管圖1.3(a)-(c)基于二維材料的三種常見的場效應(yīng)晶體管結(jié)構(gòu):(a)背柵場效應(yīng)晶體管、(b)雙柵場效應(yīng)晶體管、(c)頂柵場效應(yīng)晶體管;(d)-(f)基于MoS2的背柵場效應(yīng)晶體管(d)、頂柵場效應(yīng)晶體管、(e)頂柵場效應(yīng)晶體管、(f)雙柵場效應(yīng)晶體管[13,35,36]。場效應(yīng)晶體管是現(xiàn)代集成電路的最基礎(chǔ)的邏輯單元器件。隨著傳統(tǒng)硅基器件尺寸不斷減小,器件的短溝道效應(yīng)和熱載流子效應(yīng)加重,研究者們采取了大量的手段去抑制這兩個效應(yīng),從輕摻雜漏極(LDD)和側(cè)墻技術(shù)(spacer)到高介電常數(shù)電介質(zhì)/金屬電極技術(shù)(HKMG),再到現(xiàn)在最先進的超薄體-全耗盡絕緣體上
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