自從1895年威廉·康拉德·倫琴(Wilhelm Conrad Rontgen,1845年—1923年)發(fā)現(xiàn)X射線之日起,X射線就被廣泛地應用在成像領(lǐng)域。由于X射線本身具有波長短、穿透能力強的特點,使其能夠很好的填補可見光顯微鏡和電子顯微鏡之間的空白,給研究者提供了高空間分辨和厚樣品三維成像的潛力。同步輻射光源的發(fā)展為X射線成像技術(shù)帶來了質(zhì)的飛躍,由于同步輻射光源具有高亮度、高通量、高準直度、精確可控等特點,使得之前無法實施的成像方案得到實現(xiàn)。近些年來,人們發(fā)展了很多基于同步輻射的X射線顯微成像的新理論和新方法,例如,Zernike相襯成像、CDI成像、吸收譜成像、X射線熒光成像等等。 本論文總結(jié)了目前較為常見的基于同步輻射裝置的X射線顯微成像方法,介紹了各種方法的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)、成像特性以及各自的應用范圍等。 本論文的主要工作是圍繞同步輻射X射線顯微成像技術(shù)開展了三種成像新理論、新方法的研究： 1.提出結(jié)構(gòu)暗場X射線顯微術(shù)。該方法通過改變前段聚焦鏡的數(shù)值孔徑,收集不同級次的散射部分信息以達到區(qū)分系統(tǒng)分辨率以下的信號的目的。通過建立數(shù)值模型,計算光強-數(shù)值孔徑曲線,分析該曲線的變化情況以獲取...

【文章頁數(shù)】：102 頁

【學位級別】：博士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
目錄
第一章 緒論
    1.1 X射線成像發(fā)展概述
    1.2 X射線成像基本原理
    1.3 本論文課題研究意義
    1.4 本文主要研究內(nèi)容
    參考文獻
第二章 同步輻射X射線顯微成像方法簡介
    2.1 全場透射X射線顯微鏡
    2.2 掃描透射X射線顯微鏡
    2.3 Zernike相襯顯微成像
    2.4 相干X射線衍射成像
    2.5 X射線全息成像
    2.6 X射線熒光顯微術(shù)
    2.7 X射線光譜顯微術(shù)
    2.8 X射線光電發(fā)射電子顯微鏡
    參考文獻
第三章 結(jié)構(gòu)暗場顯微術(shù)
    3.1 暗場成像
        3.1.1 暗場成像簡介
        3.1.2 X射線暗場成像
    3.2 結(jié)構(gòu)暗場X射線顯微術(shù)
        3.2.1 基本結(jié)構(gòu)與原理
        3.2.2 TXM系統(tǒng)光強快速計算方法
        3.2.3 結(jié)構(gòu)暗場成像系統(tǒng)的數(shù)值計算
        3.2.4 可見光實驗
    3.3 一些討論
    3.4 本章小結(jié)
    參考文獻
第四章 基于相位襯度的X射線元素分辨成像方法
    4.1 吸收邊分辨成像方法
    4.2 相襯元素分辨成像
        4.2.1 基本原理
        4.2.2 光子數(shù)密度與信噪比
        4.2.3 建模分析計算
        4.2.4 模擬實驗
        4.2.5 Zernike相位襯度TXM系統(tǒng)像平面光強仿真模擬
    4.3 一些討論
    4.4 本章小結(jié)
    參考文獻
第五章 正負相移雙金屬波帶片
    5.1 菲涅爾波帶片
        5.1.1 波帶片基本結(jié)構(gòu)
        5.1.2 波帶片發(fā)展歷史
    5.2 正負相移雙金屬波帶片
        5.2.1 基本原理
        5.2.2 一級衍射效率
        5.2.3 正負相移雙金屬波帶片工作能量范圍
        5.2.4 正負相移雙金屬波帶片的加工
    5.3 本章小結(jié)
    參考文獻
第六章 總結(jié)與展望
致謝
在讀期間發(fā)表的學術(shù)論文與取得的其他研究成果



本文編號：3821111