基于平面ECT技術(shù)的復(fù)合材料缺陷檢測研究
發(fā)布時(shí)間:2024-01-29 12:45
復(fù)合材料相較于其它材料具有較的質(zhì)量,良好的耐腐蝕性能,較高的強(qiáng)度和剛度,因其眾多優(yōu)點(diǎn)被廣泛的應(yīng)用到航空航天與軍工領(lǐng)域。復(fù)合材料在制造中,可能受到工藝,生產(chǎn)環(huán)境因素的影響使材料在在制造時(shí)產(chǎn)生缺陷;在使用或服役過程中會沖擊可能會產(chǎn)生沖擊傷,造成材料產(chǎn)生裂縫、分層等缺陷;高溫等外界因素的影響可能會造成材料的老化開裂等。缺陷可能造成復(fù)合材料喪失原有的性能。性能失效后的材料可能對飛行器的飛行安全和設(shè)備正常運(yùn)行造成影響。因此對復(fù)合材料缺陷檢測顯得尤為重要。電容層析成像技術(shù)以其獨(dú)特的優(yōu)勢在航空復(fù)合材料檢測方面被越來越廣泛的應(yīng)用。該技術(shù)基于電容邊緣效應(yīng),在不損傷材料的基礎(chǔ)上可以快速,準(zhǔn)確的探測出缺陷的位置。本文基于平面ECT技術(shù),對平面電極傳感器結(jié)構(gòu)進(jìn)行探究,設(shè)計(jì)一套基于FPGA為核心控制器的雙平面的ECT信號檢測系統(tǒng),對改進(jìn)的傳感器進(jìn)行可行性驗(yàn)證。并對構(gòu)造缺陷的復(fù)合材料進(jìn)行無損化檢測實(shí)驗(yàn)。文章將從以下內(nèi)容進(jìn)行論述:(1)對平面?zhèn)鞲衅鬟M(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì),通過平面電容傳感器幾個(gè)重要的評價(jià)指標(biāo),對優(yōu)化的傳感器進(jìn)行相關(guān)指標(biāo)的評價(jià)。使用仿真軟件COMSOL對雙面?zhèn)鞲衅鬟M(jìn)行建模。研究雙平面電容傳感器電極板的長寬比,間...
【文章頁數(shù)】:61 頁
【學(xué)位級別】:碩士
本文編號:3888211
【文章頁數(shù)】:61 頁
【學(xué)位級別】:碩士
圖1-1常見航空的復(fù)合材料
圖2-2平面電極傳感器原理
圖3-1平面面?zhèn)鞲衅魇至芽p電容值
圖3-2缺陷電容值歸一化
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