高速邏輯分析儀多通道同步技術(shù)研究
發(fā)布時間:2023-10-30 20:56
邏輯分析儀作為數(shù)據(jù)域主要測試儀器,在數(shù)字系統(tǒng)開發(fā)與測試過程中發(fā)揮重要作用,尤其是在對類似總線等多條數(shù)據(jù)線上數(shù)據(jù)時序關(guān)系進行分析時十分有效。近年來,隨著數(shù)字系統(tǒng)工作頻率越來越高,各類總線寬度不斷增加,為了能更好的對數(shù)字系統(tǒng)進行測試分析,邏輯分析儀所面臨的問題是其數(shù)據(jù)分析速率越來越高,輸入通道數(shù)也越來越多。隨著邏輯分析儀通道數(shù)的增多,其通道間的同步性也顯得尤為重要,尤其是在對高速數(shù)字系統(tǒng)進行數(shù)據(jù)分析時,邏輯分析儀通道同步性的高低直接影響到測試分析結(jié)果。因而在研制高速多通道邏輯分析儀過程中,需針對多通道同步性進行相關(guān)研究,提高其通道同步性能。本文結(jié)合實驗室高速邏輯分析儀項目的研發(fā),圍繞其多通道間的同步性問題展開研究,重點分析可能影響邏輯分析儀多通道同步性的多種因素并提出可行的解決方案。本文的主要工作內(nèi)容如下:1、根據(jù)確定的高速邏輯分析儀數(shù)據(jù)采集設(shè)計方案,對該采集方案中多通道不同步情況、產(chǎn)生的原因以及解決辦法進行論述。2、高速邏輯分析儀樣機設(shè)計,包括數(shù)據(jù)采集模塊設(shè)計以及觸發(fā)電路設(shè)計,通過設(shè)計測試樣機對本文提出的多通道同步方案的可行性進行驗證。完成高速邏輯分析儀樣機設(shè)計后,本文最后對邏輯分析儀多...
【文章頁數(shù)】:75 頁
【學位級別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
ABSTRACT
第一章 緒論
1.1 研究背景與意義
1.2 國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀與趨勢
1.3 課題主要研究內(nèi)容
1.4 本文結(jié)構(gòu)安排
第二章 高速邏輯分析儀多通道同步分析
2.1 探頭電路對多通道同步的影響
2.2 數(shù)據(jù)采集電路對多通道同步影響
2.2.1 同一通道組通道同步分析
2.2.2 多通道組間通道同步分析
2.3 觸發(fā)電路對多通道同步影響
2.4 本章小結(jié)
第三章 高速邏輯分析儀多通道同步方案
3.1 探頭電路對多通道同步影響的消除
3.2 同一通道組同步方案
3.3 多通道組間同步方案
3.3.1 多通道采集啟動同步實現(xiàn)
3.3.2 采樣時鐘同步方案
3.3.3 同步方案比較
3.4 觸發(fā)同步方案
3.5 本章小結(jié)
第四章 高速邏輯分析儀樣機設(shè)計
4.1 數(shù)據(jù)采集模塊設(shè)計
4.1.1 采樣時鐘電路設(shè)計
4.1.2 數(shù)據(jù)采樣電路設(shè)計
4.1.3 數(shù)據(jù)存儲電路設(shè)計
4.2 觸發(fā)電路設(shè)計
4.2.1 邊沿觸發(fā)電路設(shè)計
4.2.2 脈寬觸發(fā)電路設(shè)計
4.2.3 毛刺觸發(fā)電路設(shè)計
4.2.4 碼型/序列觸發(fā)電路設(shè)計
4.3 本章小結(jié)
第五章 高速邏輯分析儀性能測試
5.1 多通道采樣同步測試
5.2 觸發(fā)同步測試
5.2.1 邊沿觸發(fā)測試
5.2.2 碼型觸發(fā)測試
5.2.3 序列觸發(fā)測試
5.3 其他相關(guān)性能指標測試
5.3.1 最大定時分析速率測試
5.3.2 輸入通道數(shù)測試
5.4 本章小結(jié)
第六章 總結(jié)與展望
致謝
參考文獻
附錄
本文編號:3859161
【文章頁數(shù)】:75 頁
【學位級別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
ABSTRACT
第一章 緒論
1.1 研究背景與意義
1.2 國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀與趨勢
1.3 課題主要研究內(nèi)容
1.4 本文結(jié)構(gòu)安排
第二章 高速邏輯分析儀多通道同步分析
2.1 探頭電路對多通道同步的影響
2.2 數(shù)據(jù)采集電路對多通道同步影響
2.2.1 同一通道組通道同步分析
2.2.2 多通道組間通道同步分析
2.3 觸發(fā)電路對多通道同步影響
2.4 本章小結(jié)
第三章 高速邏輯分析儀多通道同步方案
3.1 探頭電路對多通道同步影響的消除
3.2 同一通道組同步方案
3.3 多通道組間同步方案
3.3.1 多通道采集啟動同步實現(xiàn)
3.3.2 采樣時鐘同步方案
3.3.3 同步方案比較
3.4 觸發(fā)同步方案
3.5 本章小結(jié)
第四章 高速邏輯分析儀樣機設(shè)計
4.1 數(shù)據(jù)采集模塊設(shè)計
4.1.1 采樣時鐘電路設(shè)計
4.1.2 數(shù)據(jù)采樣電路設(shè)計
4.1.3 數(shù)據(jù)存儲電路設(shè)計
4.2 觸發(fā)電路設(shè)計
4.2.1 邊沿觸發(fā)電路設(shè)計
4.2.2 脈寬觸發(fā)電路設(shè)計
4.2.3 毛刺觸發(fā)電路設(shè)計
4.2.4 碼型/序列觸發(fā)電路設(shè)計
4.3 本章小結(jié)
第五章 高速邏輯分析儀性能測試
5.1 多通道采樣同步測試
5.2 觸發(fā)同步測試
5.2.1 邊沿觸發(fā)測試
5.2.2 碼型觸發(fā)測試
5.2.3 序列觸發(fā)測試
5.3 其他相關(guān)性能指標測試
5.3.1 最大定時分析速率測試
5.3.2 輸入通道數(shù)測試
5.4 本章小結(jié)
第六章 總結(jié)與展望
致謝
參考文獻
附錄
本文編號:3859161
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