集成電路測試系統(tǒng)后邏輯支持電路改進與模擬延遲線性能分析
發(fā)布時間:2021-12-12 05:41
集成電路測試對集成電路的發(fā)展具有重要意義,不僅可以確保系統(tǒng)的可靠性,而且可以降低系統(tǒng)成本。集成電路測試系統(tǒng)的研發(fā)是集成電路測試產(chǎn)業(yè)的重要組成部分,研發(fā)和制造高水平的集成電路測試系統(tǒng)具有十分重要的意義。 本文對集成電路測試系統(tǒng)的一些關(guān)鍵問題進行了探討。在分析集成電路基本結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,對后邏輯支持電路進行分析,采用延遲線分段補償時差,提出一種提高后邏輯支持電路工作速度的方案并加以實驗驗證;對集成電路測試系統(tǒng)定時電路關(guān)鍵部件模擬延遲線的性能進行了理論分析和實驗,包括模擬延遲線定時分辨率的分析,電壓干擾、溫度、非線性等因素對定時精度影響的分析;使用CAD工具PSpice對模擬延遲線性能進行了仿真實驗并對內(nèi)部比較器結(jié)構(gòu)進行了改進。 仿真實驗表明,本文提出的后邏輯支持電路改進方案可以提高測試系統(tǒng)速度;模擬延遲線定時分辨率較高,但是定時精度卻難以提高,因此延遲線必須走集成化的道路。
【文章來源】:北京化工大學北京市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:67 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
SOC測試系統(tǒng)
模擬延遲線性能仿真實驗采用的仿真工具是PPSiec。它是由PSiec發(fā)展而來的用于微機系列的通用電路分析程序[3’]。1988年P(guān)Sice被定為美國國家工業(yè)標。目前使用的PSPice是由美國Micr0Sim公司開發(fā)并于1984年l月首次推出。它能進行模擬電路分析、數(shù)字電路分析和模擬數(shù)字混合電路分析。主要功能下:1直流分析,包括電路的靜態(tài)工作點分析;直流小信號傳遞函數(shù)值分析;直掃描分析;直流小信號靈敏度分析。2交流小信號分析,包括頻率響應分析和噪聲分析。3瞬態(tài)分析,即時域分析。4蒙特卡羅(MonteCarlo)分析。本章使用PsPiee瞬態(tài)分析的功能對影響延遲線性能的各種因素進行仿真實。圖4.1是PSPiec電路圖編輯模塊,4.2是仿真結(jié)果顯示模塊。
名廠-圖4.3差分輸入比較器圖4.3是由NMOs晶體管M,,MZ,pMoS晶體管M3,M4和電流沉MS組的差分輸入比較器,其中v。、v。是比較器的輸入,v口是比較器的比較輸出。.44是比較器輸入v,為一V1到+V1周期變化的電壓信號,v。為零時,輸出v。對入變化的延遲情況的仿真圖。
【參考文獻】:
期刊論文
[1]流水線技術(shù)在高速數(shù)字電路設(shè)計中的應用[J]. 肖良軍,江波. 壓電與聲光. 2003(05)
[2]集成電路中測概述[J]. 李定學,朱建彰. 中國集成電路. 2003(04)
[3]用于兵器測試的VXI總線虛擬儀器系統(tǒng)的設(shè)計[J]. 王建林,周秀珍. 儀器儀表學報. 2001(S1)
[4]數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的研制[J]. 樓冬明,陳波. 電子技術(shù)應用. 2001(04)
[5]集成測試技術(shù)與虛擬式儀器——面向21世紀的儀器系統(tǒng)[J]. 秦樹人,張思復,湯寶平,何輝,王旭. 中國機械工程. 1999(01)
[6]超標量與超流水線混合結(jié)構(gòu)微處理器Pentium[J]. 鄭飛. 微處理機. 1994(04)
本文編號:3536108
【文章來源】:北京化工大學北京市 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:67 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
SOC測試系統(tǒng)
模擬延遲線性能仿真實驗采用的仿真工具是PPSiec。它是由PSiec發(fā)展而來的用于微機系列的通用電路分析程序[3’]。1988年P(guān)Sice被定為美國國家工業(yè)標。目前使用的PSPice是由美國Micr0Sim公司開發(fā)并于1984年l月首次推出。它能進行模擬電路分析、數(shù)字電路分析和模擬數(shù)字混合電路分析。主要功能下:1直流分析,包括電路的靜態(tài)工作點分析;直流小信號傳遞函數(shù)值分析;直掃描分析;直流小信號靈敏度分析。2交流小信號分析,包括頻率響應分析和噪聲分析。3瞬態(tài)分析,即時域分析。4蒙特卡羅(MonteCarlo)分析。本章使用PsPiee瞬態(tài)分析的功能對影響延遲線性能的各種因素進行仿真實。圖4.1是PSPiec電路圖編輯模塊,4.2是仿真結(jié)果顯示模塊。
名廠-圖4.3差分輸入比較器圖4.3是由NMOs晶體管M,,MZ,pMoS晶體管M3,M4和電流沉MS組的差分輸入比較器,其中v。、v。是比較器的輸入,v口是比較器的比較輸出。.44是比較器輸入v,為一V1到+V1周期變化的電壓信號,v。為零時,輸出v。對入變化的延遲情況的仿真圖。
【參考文獻】:
期刊論文
[1]流水線技術(shù)在高速數(shù)字電路設(shè)計中的應用[J]. 肖良軍,江波. 壓電與聲光. 2003(05)
[2]集成電路中測概述[J]. 李定學,朱建彰. 中國集成電路. 2003(04)
[3]用于兵器測試的VXI總線虛擬儀器系統(tǒng)的設(shè)計[J]. 王建林,周秀珍. 儀器儀表學報. 2001(S1)
[4]數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)的研制[J]. 樓冬明,陳波. 電子技術(shù)應用. 2001(04)
[5]集成測試技術(shù)與虛擬式儀器——面向21世紀的儀器系統(tǒng)[J]. 秦樹人,張思復,湯寶平,何輝,王旭. 中國機械工程. 1999(01)
[6]超標量與超流水線混合結(jié)構(gòu)微處理器Pentium[J]. 鄭飛. 微處理機. 1994(04)
本文編號:3536108
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